我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统（OLED光谱分析仪）、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。

主要测试功能： OLED效率测量/EQE测量，Lm/W 和 Cd/A；

发射角度测量；

光谱&颜色测量@发射角；

CIE xyY测量；

视角测量；

IVL(电流—电压—亮度)测量；

PL光致发光和EL电致发光测量；

极化测量；

主要技术规格：

角度范围：-85°~+85°；

光谱范围：360nm~880nm，分辨率1.2nm;