比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪
精微高博是比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪权威的厂商,精微高博比表面积测定仪一并荣获中国计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有**的**产品是通过***高新技术企业
精微高博比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪具有专有的双级真空技术，多级压力传感器，国内**可进行微孔分布测试的仪器。

比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪功能
比表面测定：      BET（单点、多点）比表面、Langmuir比表面、外表面测定
BJH孔径分布测定：      总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布
微孔常规分析：      微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）
微孔孔径分布测试：    氮分压10-7 - 10-1范围的等温吸附曲线测定                                           0.35-2nm微孔孔径分布分析（HK或FS法）
比表面积测定仪真密度测试

比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪技术参数
比表面积测定仪原理方法：  低温氮吸附，静态容量法
比表面积测定仪吸附气体：  高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
比表面积测定仪真空：  4 - 6.7×10-3 Pa （ 3 - 5×10-5 Torr）
比表面积测定仪氮气分压：  4×10-7 –0.995
比表面积测定仪控制精度：  测试压力点控制间隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr），测试点可多达一千个。
                         10-7-10-1范围测试压力点大于50点
比表面积测定仪测试范围：  比表面： 0.01 M2/g，无规定上限
                         介孔孔径分析 2 - 400nm
                         微孔孔径分析0.35 - 2nm
比表面积测定仪测试效率：  多点BET比表面每样平均20min
                          孔径分析时间随材质不同各异
比表面积测定仪预 处 理：  两个样品同位处理，温度50-400℃，±1℃
比表面积测定仪专用软件：  BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等

比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪特色
    ◎  比表面仪具有国内**通过***技术鉴定的产品，控制和测试精度达到国际**；
    ◎  比表面仪具有独有双级真空系统，测试系统实际真空度可达0.01Pa，P/Po达10-7，
          基本满足了微孔测试条件；
    ◎  比表面仪具有独有的抽气与充气速度精密控制技术，保证了测试的准确性和安全性；
    ◎  比表面仪具有独特的液氮面多途径控制与校正技术，连续测试10小时也不需添加液氮；
    ◎  比表面仪具有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法，微孔常规测试技术国内**；
    ◎  比表面仪具有国内**拥有微孔分布测试软件技术（HK、FS等）
    ◎  比表面仪具有专用软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程；
    ◎  比表面仪具有实验全程自动化、智能化控制，长时间运行完全可以无人值守；

比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪应用领域:吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电剂,缓蚀剂,锰粉,电解二氧化锰,石墨粉,氢氧化亚镍,泡沫镍,改性石墨材料,正极活性物质,负极活性物质,锌粉等);金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛白粉,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土,煤炭,水泥,储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,发光稀土粉末材料,粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.

公司介绍
北京精微高博科学技术有限公司(JWGB Sci & Tech Ltd.)成立于2004 年，是知名材料科学家钟家湘教授领衔创建的，是集研发、制造、销售、服务于一体的***高新技术企业，专业从事比表面及孔径分析仪、全自动真密度仪、气体选择性吸附仪、蒸汽吸附仪等物性分析设备的研究，被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”，是我国纳米新材料表征和测试仪器的**者。公司总部坐落于北京经济技术开发区。

十几年来，精微高博逐渐形成一支多学科交叉的技术团队，革新了测试技术并设计发明了相应的表面物性测试仪器，使粉体及多孔材料的测试更精确、更精密、更可靠。生产研发的比表面及孔径分析仪被广泛应用于电池、催化剂、吸附剂、稀土、陶瓷、石墨等行业的生产企业，以及高校粉体新材料的研究。

截止目前，公司拥有3项发明授权**、6项实用新型**、1项外观设计、13项软件著作权，2012年获得CISILE “自主创新金奖”；2015年钟家湘教授获得第二届科学仪器行业“研发特别贡献奖”；2016年获得仪器仪表学会“科学技术三等奖”；2017年参与制定国家标准GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》。2018年成为中国高等教育学会认定的实验室及科研设备与技术类的推荐企业。

精微高博的愿景是：创中国知名品牌，争世界一流产品。以成就客户为使命，向全球客户提供高质量、高易用性、高性价比的产品和服务解决方案。以振兴民族产业为己任，让中国创造享誉全球，将精微高博发展成为源于中国**的国际品牌。为此，在技术和管理上持续投入和创新，打造精诚团结的人才队伍，在产品和服务质量上不断提高，立足中国，走向世界，为广大客户创造价值。

公司荣誉
***高新技术企业
中关村高新技术协会理事单位
中国分析测试协会会员单位
北京粉体技术协会理事单位
**受***专家进行产品鉴定的企业
欧盟安全体系认定证书
中国计量研究院仪器校准证书
北京市可引进人才进京落户单位
公司的核心价值
领导行业发展；尊重人才与创新；以服务客户为己任。

比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪的专业权威研发商
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精微高博是一家以研发，生产及销售比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪器检测仪器的公司

本公司经营比表面，比表面仪，比表面积，比表面及孔结构分析仪，比表面分析仪，比表面测试等，质量保证，欢迎咨询洽谈。