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美国RHK扫描探针控制单元R9 Plus
美国RHK扫描探针控制单元R9 Plus

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R9plus 扫描探针显微镜控制器

产品简介:

继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得极大成功之后,其研发团队通过升级其软硬件和功能隆重发布了R9plus控制器。相比于R9控制器,R9plus性能提升主要包括:

> 全新的FPGA固件构架极大地提高了配置灵活性

> 对于高级测量提供了60多个可用的数据通道

> 数据流和扫描速度均提高5倍

> 优化的高压输出电路板,噪声水平降低到R9控制器的1/4

> 两个扫描探针控制系统

> 可设置任意密度的网格点进行图谱测量

产品特点

极低噪音与超高稳定性!

单箱集成所有输入、输出及控制模块

R9plus更低的噪声水平

极低噪声,超高速度和精度的数模转换接口

线性电源提供极低噪声密度

开放性与灵活性极高!

HDLTM软件界面

R9扫描探针显微镜控制平台采用了RHK独有的IHDLTM图像化硬件描述与编辑软件,通过简单的“拖放”操作,即可完成对硬件和实验的所有设置。

同时IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB,为实验的设计提供了无限的可能。

特制的硬件系统

采用RHK特制的且优化设计的硬件模块,利用RHK UltraDAC技术以极低的噪音水平对所有的信号进行数字化运算和处理。

硬件模块包括:PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。

强大而优异的功能

将所有SPM的功能模式集中到一起,通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。

无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM、SNOM等功能。

兼容所有商业化的STM/AFM系统,并实现对他们的全面控制。

功能强大,性能可靠!

> 支持所有的扫描探针显微镜操作模式,包括:STM、dI/dV谱、接触式和导电式AFM、非接触式AFM、开尔文探针KFM等。不需要添加任何外置设备;

> 支持音叉式和微悬臂式AFM;

> 支持所有非接触式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接触式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全数字式Phase Shifter,保证了系统的稳定性;;

> PLL和Multiple Lock-in通道一起使用,可以同时采集多个谐频信号;

> SNOM:多个高速输入通道可以同时对表面成像,并采集光学信号(模拟或脉冲计数);

> KFM:无需添加任何外置的设备,即可完成KFM实验;

> 全面兼容LabVIEW和MATLAB等语言与程序;

极强的谱图能力!

20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gap is due to proximity effect of superconductivity.

20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gapis due to proximity effect of superconductivity.

利用R9plus采集扫描隧道谱图,允许实时显示10条阈值谱线,且谱线的每个像素点可以单独显示和分析。

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