台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES）

美国easyXAFS公司**推出台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES），采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究领域，实现对元素的测定、定量和价态分析等。

easyXAFS产品参数

easyXAFS 产品优势

- 无需同步辐射光源

- 科研级别谱图效果

- 台式设计，实验室内使用

- 可外接仪器设备，控制样品条件

- 可实现多个样品或多种条件测试

- 操作便捷、维护成本低

easyXAFS 应用案例谱图展示

1、XAFS300

2、XES100

■ XES Mode

■ XAFS Mode

easyXAFS 已发表文章

1. Jahrman， Seidler， et al.， J. Electrochem. Soc. 2019.

2. Jahrman， Holden， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2019.

3. Bès， Ahopelto， et al.， J. Nucl. Mater. 2018.

4. Mundy， Cossairt， et al.，Chem Mater 2018

5. Jahrman， Seidler， and Sieber， Anal. Chem.， 2018

6. Holden， Seidler， et al.， J. Phys. Chem. A， 2018.

7. Stein， Holden， et al.， Chem. Mater.， 2018.

8. Padamati， Angelone， et al.， JACS， 2017

9. Mortensen， Seidler， et al.， Phys Rev B， 2017.

10. Valenza， Jahrman， et al.， Phys Rev A， 2017

11. Mortensen， Seidler， et al.， XAFS16 conference proceedings.

12. Seidler， Mortensen， et al.， XAFS16 conference proceedings.

13. Seidler， Mortensen， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2014.