参考价格
面议型号
JEM-ARM200F品牌
产地
日本样本
暂无误差率：
0.5分辨率：
0.1nm重现性：
0.5仪器原理：
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JEM-ARM200F
国产其他测试设备
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JEM-ARM200F球差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。JEM-ARM200F差校正透射电镜可用于成分，形貌，结构分析测试。获得样品表面形貌，粒径等相关信息。用于获得明、暗场像的衬度像进行分析。直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列，还可以同时获取STEM-HAADF像，极大增强观察、分析能力。原子像，选区电子衍射，会聚束电子衍射；对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。
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