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EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器
EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器

参考价格

1万元以下

型号

EIGER2 X/XE

品牌

DECTRIS

产地

瑞士

样本

暂无
北京优纳珂科技有限公司

会员

|

第3年

|

代理商

工商已核实

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核心参数
  • 功率(kw):

    45
  • 重量(kg):

    25
  • 规格外形(长*宽*高):

    20*40*30
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产品名称:EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器

品牌:德科特思(DECTRIS

产地:瑞士

1、产品特点:

  DECTRIS EIGER2 X/XE光子计数X射线探测器将混合像素科技中的**发展成果转化成**的探测性能。归功于其高达2000Hz的帧率,低于100ns死区时间的无损探测,以及单像素点扩散函数带来的理想计数统计率,使得该探测器能在线站上采集极为准确的数据。

 新型的EIGE2R X/XE 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步辐射应用提供**的探测性能。具有连续读数能力以及千赫兹帧速率的成像能力为时间分辨类实验和XPCS提供了一种全新的手段,使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸,通过X射线的直接转换可以获得**的点扩散函数。在理想情况下每单位面积的**计数速率可以与持续增加的波束线亮度相匹配。

 2、核心优势:

   混合成像计数:单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力

  - 千赫帧速率占空比> 99%

  - 75μm像素尺寸的高空间分辨率

  - 优秀的点扩散函数

  - 无读出噪声和暗电流

  - 极其紧凑的外壳 

3、应用领域:

  -X射线光子相关光谱(XPCS)

 - Ptychography(叠层衍射)成像技术

 - 时间分辨实验

 - 大分子晶体学(MX)

 - 单晶衍射(SCD)

 - 粉末衍射(PD)

 - 表面衍射

小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)

- X射线成像

技术参数:

型号

EIGER2 X 500K

EIGER2 X 1M

EIGER2 X 4M

EIGER2 X 9M

EIGER2 X 16M

EIGER2 XE 9M

EIGER2 XE 16M

有效面积:宽x高 [mm2]

77.1 x 38.4

77.1 X 79.7

155.1 x 162.2

233.1 x 244.7

311.1 x 327.2

233.1 x 244.7

311.1 x 327.2

像素大小 [μm2]

75 x 75

总像素数量

1028x512

1028x1062

2068 x 2162

3108 x 3262

4148X4362

3108 x 3262

4148X4362

间隙宽度, 水平/垂直(像素)

-/-

-/38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

**帧频* [Hz]

2000

2000

500

230

130

550

550

计数器深度 [ bit ]

16

16

16

16

16

16

16

读出时间

连续读数

点扩散函数

1 pixel

传感器材料

Si

传感器厚度 [μm]

450

能量范围 [keV]

6-40

**计数率 [ph/s/pixel]

107

尺寸(WHD)[mm3]

114 x 92 x 242

114 x 133 x 242

235 x 237 x 372

340 x 370 x 500

400 x 430 x 500

340 x 370 x 500

400 x 430 x 500

重量 [kg]

3.7

4.7

15

41

55

41

55

冷却方式

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

北京优纳珂科技有限公司是瑞士DECTRIS(德科特思)指定的在中国地区同步辐射和科研实验室总代理。负责DECTRIS(德科特思)产品在中国软硬件的售前售后,EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探测器参数。公司拥有专业的销售、服务团队,为您提供产品咨询、设备安装、设备维护等专业的一站式服务。公司秉承提供一流的产品、精湛的技术与良好的服务态度,本着“信誉**、客户至上”的原则,竭诚为您服务。详情请致电400 188 9798或登录网址了解更多信息。

 

产品名称:EIGER2 X/XE CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器

品牌:德科特思(DECTRIS

产地:瑞士

产品详情:
1、产品特点:
    

       第四代同步加速器的尖端技术:

       EIGER2 X/XE CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75µm,且对能量到达100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死时间为零,所以每帧之间不会丢失光子。两个可调的能量阈值可以同时区分荧光背景(低能阈值)并且测量高次谐波的影响(高能阈值)。**计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。

 

2、核心优势:

      – 高量子效率范围达100KeV

       – 无图像延迟或余辉

       – **计数速率高达107光子/秒/像素

       – 双能量阈值

       – 电子门控触发

       – 有效面积大

 

3、应用领域:

        – x射线衍射(单晶和粉末)

        – 现场和原位技术

       – 衍射显微镜和层析成像

       – 漫散射和对分布函数

技术参数:

型号

EIGER2 X CdTe 500K

EIGER2 X CdTe 1M

EIGER2 X CdTe 4M

EIGER2 X CdTe 9M

EIGER2 X CdTe 16M

EIGER2 XE CdTe 9M

EIGER2 XE CdTe 16M

有效面积:宽x高 [mm2]

77.1 x 38.4

77.1 X 79.7

155.1 x 162.2

233.1 x 244.7

311.1 x 327.2

233.1 x 244.7

311.1 x 327.2

像素大小 [μm2]

75 x 75

总像素数量

1028x512

1028x1062

2068 x 2162

3108 x 3262

4148 x 4362

3108 x 3262

4148 x 4362

间隙宽度, 水平/垂直(像素)

-/-

-/38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

**帧频* [Hz]

2000

2000

500

230

130

550

550

计数器深度 [ bit ]

16

16

16

16

16

16

16

读出时间

连续读数

点扩散函数

1 pixel

传感器材料

CdTe

传感器厚度 [μm]

750

能量范围 [keV]

8-100

**计数率 [ph/s/pixel]

107

尺寸(WHD)[mm3]

114 x 92 x 242

114 x 133 x 242

235 x 237 x 372

340 x 370 x 500

400 x 430 x 500

340 x 370 x 500

400 x 430 x 500

重量 [kg]

3.7

4.7

15

41

55

41

55

冷却方式

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

北京优纳珂科技有限公司是瑞士DECTRIS(德科特思)指定的在中国地区同步辐射和科研实验室总代理。负责DECTRIS(德科特思)产品在中国软硬件的售前售后,EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探测器参数。公司拥有专业的销售、服务团队,为您提供产品咨询、设备安装、设备维护等专业的一站式服务。公司秉承提供一流的产品、精湛的技术与良好的服务态度,本着“信誉**、客户至上”的原则,竭诚为您服务。详情请致电400 188 9798或登录网址了解更多信息。


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产品质量

10分

售后服务

10分

易用性

10分

性价比

10分
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