NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪

用途：
NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪同时具有Zeta电位及纳米粒径的分析测试功能，适用于多种不同的纳米乳液、悬浮液胶体，聚合物，生物颗粒等的尺寸和表面电位测量，能广泛应用于精细化工行业纳米材料、表活、低聚物等的开发和生产质控，同时也是油墨，医药制剂等行业产品开发及质控的通用测试仪器。

NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在2018年成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）的纳米颗粒表征技术的NS-90纳米粒度分析仪开发基础上，进一步将Zeta电位的功能加入其中推出的新一代产品。NS-90Z同时具有优越的粒径分析和电位分析功能，满足广大纳米材料、制剂的开发和生产用户的颗粒尺寸和表面电位的测试需求。该仪器使用13° 电泳光散射测定zeta电位，13° + 90° 动态光散射技术测量粒子和分子粒度，应用静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量的功能。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，和全球化供应链的优质光电部件，例如标配的进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术，密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使得仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。

光学系统设计图：

工作原理

NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型仪器中集成了三种技术：

动态光散射 13° + 90° 散射角来测量粒子和分子粒度。该技术可测量布朗运动下移动颗粒的扩散情况，并采用斯托克斯-爱因斯坦方程将其转化为粒度与粒度分布。

液体中的粒子由于周围的溶剂分子撞击产生随机布朗运动。小粒子在液体中运动速度较快，而大颗粒运动相对缓慢。这种运动一直都在进行，所以如果我们取一小段时间间隔拍摄样品运动“图像”，我们可以看出粒子移动了多少，并且换算出它有多大。相同时间内，如果位移比较小，粒子位置接近，则样品中粒子较大；相反地，如果位移较大，粒子位置变化很大，则样品中粒子较小。这种利用扩散速度与粒径之间的关系测定粒子的大小的方法即为动态光散射（DLS）技术，也称为光子相关光谱（PCS）技术。

静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为“静态光散射”。静态光散射法中，通过检测不同浓度下样品的散射光强，并且绘制德拜图（Debye Plot）计算出平均分子量。

粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度。在此测量方法中，检测一系列不同浓度下样品的散射光强（kC/R），将该数值与标准物（如甲苯）产生的散射光强进行比较，即可得到德拜图。德拜图中的拟合直线斜率为第二维里系数（2nd Virial Coefficient, A2），拟合直线外延到零浓度的数值为平均分子量的倒数（1/MW）。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。   

激光多普勒微量电泳法可用于测量zeta电位。分子和颗粒在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。使用激光相干技术 M3-PALS （相位分析光散射法）检测其速率。 这样可以计算电泳迁移率，并由此利用Herry方程计算zeta电位，精确测量多种样品类型和分散介质，包括高浓度盐和非水性分散剂。M3-PALS 技术的应用，成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。

分散介质中颗粒、分子或者蛋白质获得的电荷由其表面电荷、周围溶液离子浓度及离职类型决定，表面电荷代表了分散体系或者溶液的稳定性。这就意味着，稳定性可以通过改变pH值、离子浓度、离子类型并使用诸如表面活性剂及聚合物电解质等添加剂进行改良。

适用体系：水相或有机相中稳定存在，或做缓慢沉降运动的颗粒。典型体系包括：金属、有机颗粒、蛋白质、聚电解质、无机氧化物、乳液、浆料、煤黑、油墨及炭黑等等。

仪器特点：

【先进的光学系统设计】

单模式和多模式光纤的结合应用，尽可能减少杂散光，提高信噪比。结合不同的测试模式，大大提高了低电泳迁移率的带电粒子zeta电位检测的准确性和可重复性。

M3-PALS技术，有效检测散射光的相位变化。

能够有效检测高盐浓度环境和有机相中颗粒电泳运动。

分辨不同种类颗粒的电泳迁移，完全消除电渗的影响。

同时提供zeta电位平均值和zeta电位分布。

90°和13°相结合的双角度测量模式。

经典的90°光散射，符号ISO 13321，配合高灵敏度APD检测器及混合模式光纤技术，能测量粒径小于1nm的样品，如蔗糖。

13°下检测，能分辨微量稳定存在的大颗粒。

双角度同时检测，获得团聚度参数。

【功能丰富的软件优化用户体验】

 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的优良设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。

【高性能检测器】

  使效率高的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优的测试性能。

【研究级数字相关器】

 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。

【稳定的激光光源和光路系统】

 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。

【精确的内部控温系统】

独立的循环温控槽可在0℃ – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。亦可选装120℃ 温控槽。

软件功能：

1. 使用先进软件技术和界面，操作简单。

2. 全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。

3. 支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。

4. 测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。

5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。

6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。

7. 数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。

技术参数：