参考价格
面议型号
大尺寸样品观察Phenom XL G3品牌
产地
荷兰样本
暂无探测器：
背散射探测器加速电压：
基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV电子枪：
CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时电子光学放大：
200,000 X光学放大：
3-19X分辨率：
优于 8 nm复纳科技扫描电镜
复纳科技大尺寸样品观察Phenom XL G3
国产扫描电镜
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对于部分材料检测和科研测试而言，样品并不适合裁切成小尺寸后再进行观察。尤其是块状材料、较大尺寸部件以及需要保留原始形态的样品，样品仓空间往往会直接影响扫描电镜的使用范围。
Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，**支持 100 x 100 mm 样品分析，可用于较大尺寸样品的微观形貌观察。同时，设备可同时容纳 36 个样品，对于需要连续处理多个样品的检测任务，也能够提供较大的样品承载空间。
在日常成像方面，Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm。设备采用 CeB6 灯丝，可用于材料表面、颗粒、局部结构以及缺陷区域等微观特征的观察。
除样品空间外，Phenom XL G3 还提供低、中、高三种真空模式。设备标配背散射探测器，并可根据实际应用需求选配二次电子探测器和能谱探测器，从而满足不同类型材料的观察和分析任务。
**样品尺寸可达到 100 x 100 mm，对于块状材料、较大尺寸试件以及其他不便进行小尺寸取样的样品，可提供更大的装样空间。
设备*多可同时容纳 36 个样品。对于批量样品测试或不同样品需要连续观察的情况，可以在一次实验中安排多个样品，提高实验室测试的便利性。
大仓室并不意味着只能进行低倍观察。Phenom XL G3 电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可根据实际测试目标从整体形貌观察进一步查看局部微观结构。
平均成像时间约 40 秒，可满足日常材料观察和多样品测试中的成像需求。
设备采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时，为实验室开展长期材料观察和检测提供支持。
支持低、中、高三种真空模式，可针对不同样品特性选择相应的工作模式。
标配背散射探测器，可选配二次电子探测器和能谱探测器。根据配置不同，可开展材料形貌观察以及颗粒、异物或局部区域的元素分析。
Phenom XL G3 可用于：
大尺寸材料样品观察
块状及较大尺寸试件分析
多样品连续检测
材料表面形貌观察
颗粒及局部结构观察
缺陷区域微观分析
工业质量检测
第三方检测与科研测试
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 产品型号 | Phenom XL G3 |
| 产品全称 | XL 大仓室自动化电镜 |
| 产品类型 | 大仓室台式扫描电镜 |
| 光学放大 | 3 - 19 X |
| 电子光学放大 | 200,000 X |
| 分辨率 | 优于 8 nm |
| 电子枪 | CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时 |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 平均成像时间 | 约 40 秒 |
| **样品尺寸 | 100 x 100 mm |
| 样品承载 | 可同时容纳 36 个样品 |
| 加速电压 | 基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 高级模式 | 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 | 低 / 中 / 高三种模式 |
| 探测器 | 背散射探测器 |
| 可选探测器 | 二次电子探测器、能谱探测器 |
设备**支持 100 x 100 mm 样品分析。实际可测试样品还需要结合样品形状、厚度以及具体装样方式进行确认。
可以。样品承载能力可同时容纳 36 个样品，适合多样品检测及连续测试需求。
可以。设备电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可针对样品局部区域进行进一步放大观察。
设备可根据需求选配能谱探测器，用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。具体分析能力需结合样品类型及配置确定。
价格根据设备具体配置、探测器选项及实际应用需求确定。可通过平台询价或留言提交样品类型和测试要求，获取相应选型建议。
如果您的样品尺寸较大，或者一次测试涉及较多样品，可通过平台询价或留言提交样品尺寸、数量及测试需求，了解 Phenom XL G3 的适用配置、应用资料及报价信息。
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