参考价格
5-10万元型号
Nanotrac Wave Ⅱ品牌
Microtrac-BEL产地
日本样本
暂无误差率：
不限分辨率：
400重现性：
300仪器原理：
动态光散射分散方式：
100测量时间：
不限测量范围：
300秋山工业激光粒度仪
秋山工业Nanotrac Wave Ⅱ
国产激光粒度仪
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动态光背散射技术：采用先进的动态光背散射技术，结合全量程米氏理论处理，可准确测量粒径范围为0.3nm-10µm的纳米颗粒。
微电场分析技术：融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。
异相多谱勒频移技术：获得的光信号强度较传统方法高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
快速傅利叶变换算法：迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
“Y”型光纤探针光路设计：通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。
超短散射光程设计：减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
激光放大检测方法：信噪比是其他DLS方法的106倍，如光子相关光谱（PCS）和纳米跟踪（NT），不受样品中污染物造成的信号失真影响。
可控参比方法（CRM）：能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
高精度测量：粒度分析范围宽，重现性误差≤1%，浓度范围广（100ppb-40%w/v），测量精度高，无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果。
无需复杂设备：无需比色皿、毛细管电泳池或外加电池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果。
消除多种干扰：完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，提高灵敏度。
FLEX软件：提供强大的数据处理能力，包括图形、数据输出/输入、个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出、Internet共享数据、Microsoft Access格式（OLE）等。数据的完整性符合21 CFR PART 11要求。
日本Microtrac-Bel纳米颗粒粒度仪Nanotrac Wave Ⅱ
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