日本YAMADA山田 高辉度半导体检查灯

这是一种光源装置，通过使用用于检查 si 晶园和玻璃表面上的划痕的照明光源提供 400,000Lux(30Ф)或更高的照明，可以观察到细微的划痕。

日本YAMADA山田半导体检查灯产品特点:

可照亮样品表面400.000Lxl以上。

2、光源采用卤素灯，色温高，照度不均小，光线极其稳定锐利。

3、采用冷镜，热量的影响极大地降低到传统锠镜的1/3。

4、两级切换机构，一键实现高照度观察和低照度观察。YP-1501照度范围:30mmp

基本信息高强度卤素光源装置

超精密平面检测的理想选择!通过惊人的照明，可以检测小于 0,2 um 的缺陷。“YP-1501"是一种用于显微观察的照明装置，用于检测*终成品表面上的各种缺陷，如异物、划痕、抛光不均匀、雾度、滑移等，是半导体加工过程中劳动强度的一种。晶圆和液晶

样品表面的照度可超过 400.000 Lx。

另外，由于采用卤素灯作为光源，色温高，

光照不均匀的情况很少，光照***稳定锐利:

姊妹机“YP-2501"也可用于 8 英寸。