参考价格
50-60万元型号
ATP7330品牌
奥谱天成产地
长沙样本
暂无测量范围:
150 nm~25 µm(依光栅)/ 180-2500 nm 标准 / 2048-512 像素误差率:
未明确分辨率:
最高 0.01 nm(FL810 最优 0.04-0.05 nm)重现性:
0.36 µrad分散方式:
C-T + 超环面校准 + 塔式光栅(0.36 µrad)+ 制冷 CCD + 5~200 µm 狭缝测量时间:
积分 10 µs~1.3 h(扫描型无帧率)奥谱天成光谱检测分析仪
奥谱天成ATP7330
国产光谱检测分析仪
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ATP7330 超高分辨率光栅光谱仪
这台仪器解决什么问题
一台光谱仪能覆盖多宽、分辨多细,主要由焦长和光栅说了算。ATP7330 在这两件事上都留足了余地:焦长提供 210、350、510、810 mm 四种规格,反射式光栅可按 90 至 3600 线/mm 任意选配,配合塔轮结构,波长覆盖与分辨能力不再相互牵制。
整套光学系统经仿真优化并做了像差修正,支持多根光纤同时成像,既适配单点探测器,也能挂接各类阵列相机。进光端兼容 SMA905 光纤耦合与自由空间入射,狭缝宽度电动可调;光谱数据经 USB 2.0 或 UART 送出,整机仅靠一路 +12 V / 24 V 直流供电即可运行,光栅切换、波长扫描等动作全部由软件完成,适合长时间连续采集。
关键设计
· 分辨率极限 0.01 nm
· 焦长四选一:210 / 350 / 510 / 810 mm
· 波长覆盖 150 nm - 25 μm,实际范围随光栅配置而定
· 塔轮可装 2 - 4 片反射光栅,刻线密度 90 - 3600 线/mm 可选
· 进光方式:SMA905 光纤或自由空间,狭缝电动可调
· 双出口设计,可同时挂载两个探测器
· C-T 光路架构,配超环面彗差校正
· 转栅与波长扫描全部电动、软件控制
· 附件体系开放,可按实验需要扩展
能做什么
· 拉曼光谱
· 荧光光谱
· 光致发光光谱
· 吸收、反射、透射光谱
· 其他各类光谱实验
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