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MCP-T360低阻抗分析仪
MCP-T360低阻抗分析仪

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日本

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北京金富泓科技有限公司

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仪器简介:

MCP-T360

技术参数:

MCP-T360技术参数

测量方法 4 针探头,恒流方法

测量范围 10-2 10-1 100 101 102 103 104 105 106

支持电流 100mA 10mA 1mA 100 m A 10 m A 1 m A

测量精度 ± 1.0%

± 20dgt

± 1.0%

± 5dgt

± 0.5%

± 5dgt

± 0.5%

± 3dgt

± 2.0%

± 5dgt

显示器 液晶

电源 直流 6.5V , 350mA

4 针探头 MCP 探头( ASP , ESP , PSP , BSP , QPP , TFP )

数据输出 RS232C

尺寸,重量 W100 X D230 X H45 mm , 500g

标准附件 ASP 探头 MCP-TP03P ( 4 针,内置针长 5mm, 针尖 0.37R )

交流适配器 MCP-TA05( 直流 6.5V , 350mA 充电电池 )

MCP-T360可选探头

用于非均衡样品,内针长 4mm ,针尖 Φ 2 ,弹簧压力 240g/ 针 MCP-TP08P

用于小样品,内针长 1.5mm ,针尖 0.26R ,弹簧压力 70g/ 针 MCP-TP06P

用于微小样品,内针长 1.5mm ,针尖 0.26R ,弹簧压力 70g/ 针

MCP-TPQPP

用于长样品,内针长 2.2mm ,针尖 0.37R ,弹簧压力 210g/ 针

MCP-TP05P

用于薄样品,内针长 1mm ,针尖 0.15R ,弹簧压力 50g/ 针 MCP-TFP

探头检测器 1 W 用于 ASP , ESP 探头, MCP

主要特点:

MCP-T360仪器介绍:

表面阻抗仪主要应用于对样品表面涂层,表面镀膜,表面油漆,表面贴面及电路板等形式的低阻抗测量,以确定样品的表面是否均匀和无任何细微断裂。

特点

LORESTA-EP 手持单元 可配置多种探头测量低阻抗

测量精确稳定

**的 4 针探头技术和数据存储

阻抗计

• 手持,轻体

• 便携式

• 大液晶显示器使操作简单

• 精确而稳定的测量

MCP 探头

• 一次接触样品,即可完成测量

• 内置针,恒定针压力

• 定内阻和导线阻抗已经除外

应用

导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等。

应用于低阻抗测量范围,带 4 针探头 测量范围: 10-2 ~ 106 Ω

用途

工业生产,质量控制,研发

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产品质量

10分

售后服务

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