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自动缺陷检查和表面粗糙度测量的AFM
自动缺陷检查和表面粗糙度测量的AFM

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Simply the best AFM for automatic defect review and surface

品牌

Park

产地

韩国

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韩国帕克股份有限公司

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Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析,从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内*低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量*精确的原子力显微镜。

Higher Throughput, Automatic Defect Review


对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析, 从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。


 


Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement


业内对于超平媒介和基体的要求越来越高,所以需要满足设备体积不断减小的需求。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内*低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量*精确的原子力显微镜。


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