日本 FLOVEL TOMOS-50 紧凑型双面位置偏移测量显微镜系统，是专为电子元器件、半导体、MEMS 等产品打造的高精度双面检测设备，可实现表裏两面同时摄影、尺寸测量、位置偏移测量，**解决传统单目显微镜无法同步检测双面的痛点，实现高精度、低成本的自动化检测。

设备搭载双 1/1.8 型 CMOS 相机（300 万像素，黑白 / 彩色可选），支持 5/10/20/50 倍物镜切换，XY 行程 100×100mm，可覆盖大尺寸样品检测；采用白色 LED 照明（落射 / 透射 / 落射 + 透射可选），支持正立 / 倒立软件控制，适配不同样品的照明需求。内置表裏光轴补正功能，以微米级精度校正表裏光轴，实现 ±0.2μm 以下的重复精度，精准测量表裏位置偏移；支持双面图像合成、自动边缘检测、自动尺寸 / 位置偏移测量，彻底消除人工测量误差，提升检测效率。

设备采用 CameraLink 图像输出，搭载 Windows 11 控制系统，支持双画面同步显示、图像滤波、动画录制等功能；紧凑机身设计，可作为装置组込用双面显微镜模块，适配自动化产线集成。广泛应用于水晶振子、MEMS、インクジェットノズル、半导体电子部品等的表裏位置偏移、尺寸测量，是电子元器件质量管控的核心检测设备。