日本王子计测机器 KOBRA-HB 系列位相差・椭圆偏振测量装置，是 OSI 推出的新一代高精度光学检测设备，专为液晶、光学薄膜、半导体等行业的材料分析打造，实现了从 2nm 超低位相差到 20000nm 超高位相差的全范围精准测量，同时集成椭圆偏振分析功能，可一站式完成位相差、相位差、椭圆率、轴角度等多参数检测。

设备采用 LED 光源，彻底免维护、无需更换光源，大幅降低使用成本；搭载高精度检测光路，实现 0.001° 的角度分辨率与长期稳定性，适配各类光学薄膜、相位差膜、液晶面板的品质检测。支持垂直入射 / 斜入射双检测模式，样品尺寸覆盖 φ30mm 以上、30~40×50mm 等多种规格，检测面积 33mm²，可精准分析材料的光学各向异性。

系统配套专业分析软件，可直观生成位相差分布、椭圆偏振曲线等数据报告；与 KOBRA-W 系列共享样品台与夹具，兼容性强；机身尺寸仅 W300×D700×H500mm，小巧紧凑，适配实验室、产线检测双场景。广泛应用于液晶面板制造、光学薄膜研发、半导体材料分析等领域，是高端光学检测的核心设备。