Photonic Lattice WPA-200 系列二维双折射评价系统是日本 Photonic Lattice 推出的高精度光学测量设备，采用三波长（523nm、543nm、575nm）干涉测量技术，将位相差测量范围拓展至 0~3500nm，专为薄膜、透明树脂、玻璃等材料的双折射、应力分布检测打造。

系统搭载 11 万像素复屈折传感器，位相差重复精度 σ＜0.1nm，轴方位精度 σ＜0.1°（位相差＞10nm 时），可实现亚纳米级超高精度测量；支持应力值一键换算，直观呈现材料内部应力分布，广泛应用于胶片、仪表板、光学薄膜等产品的品质检测。系列覆盖 WPA-200（台式）、WPA-200-L（大台面）、WPA-200-XL（超大台面）三款型号，测量视野从微米级到 50cm 大尺寸全覆盖，适配不同规格样品的检测需求。

设备采用 GigE 相机接口，配套 WPA-View 专业分析软件，操作便捷；AC100~240V 宽幅电源适配，满足不同场景使用。机身采用轻量化设计，WPA-200 仅重 13kg，安装灵活，是光学材料、高分子材料、电子元器件等行业研发与品控的核心测量设备。