Exicor® GEN 系列是美国 Hinds Instruments 推出的大尺寸面板双折射测量系统，专为 LCD 显示面板、玻璃基板、补偿膜等大规格材料的应力与双折射检测设计，是显示面板制造、光学材料研发领域的核心检测设备。

系统基于核心 Exicor 低级双折射测量技术与精密自动化运动控制，搭载 PEMLabs™光弹性调制器与 Signaloc™锁相放大器，实现 0.001nm 延迟分辨率、±0.008nm 超高重复性，0.01° 角分辨率，可精准测量大尺寸面板全域双折射与应力分布。标配高张力钢丝网样品台，**化可测量区域，大幅减少样品下垂与弯曲；可选 Scan In Motion™高速扫描技术，*快仅需 12 分钟即可完成全面板表征，检测效率行业**。

设备支持** 1150mm×1375mm 超大扫描区域，可扩展至更大尺寸，适配第 5 代 + 显示面板、商业窗玻璃、片材等多类材料；配套专业分析软件，支持 2D/3D 可视化、厚度 / 翘曲度测量、应力估算等功能，操作直观高效，是显示面板量产线、光学材料实验室的理想检测工具。