日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统无损探伤

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产地：日本
关注度：32
型号：NAUT21‑I
报价：300元
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森泽无损检测/无损探伤仪器

森泽NAUT21‑I

无损检测/无损探伤仪器

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产品介绍

可在空中(空气耦合)检测,水中(水浸)检测两种方法并用的样机.

用空气耦合超声波检测方法检查出的缺陷(C扫描,可确定缺陷的平面信息)、再用水浸检测法更详细的检测(可确定缺陷的空间位置)。

利用空气耦合超声波检查可实现非接触检测,可使材料的内部缺陷信息平面成像可视化。再与水浸检查法并用,使材料内部的缺损信息3D成像。

例如、锂离子电池的检查、先用空气耦合超声波检测把握缺陷的平面位置、然后再用水浸超声波检查法进行断层成像确定缺陷的深度位置,为锂离子电池的质量提高提供**方案。

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工商信息

企业名称

深圳森泽工业品有限公司

企业类型

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91440300MAKDH8EP3N

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深圳森泽工业品有限公司是一家从事从事机电设备咨询,粉体制造设备咨询,电子计测仪器咨询等业务的公司，公司坐落在广东省，详细地址为：深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路8号和健云谷2栋B座717;企业的经营范围为:一般经营项目：从事机电设备、电子能源相关设备、食品加工机械设备、粉体制造设备、电子计测仪器、科学仪器、机械加工设备、光电产品、检测仪器的销售及技术咨询；橡塑制品、金属制品、化工产品（危险品除外）的销售；经营电子商务；国内贸易，货物及技术进出口（法律、行政法规、国务

产品小贴士

日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统无损探伤由深圳森泽工业品有限公司提供，产地为日本，属于进口无损检测/无损探伤仪器，符合多项国家和国际标准，广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域，日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统无损探伤凭借其创新性与实用性，在无损检测/无损探伤仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示：该产品已通过粉体网认证，在产品性能、服务能力等维度表现优异，用户平均评分达9.5（满分 10 分）。

根据森泽官方产品资料显示：日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统无损探伤的价格为300元，具体型号是NAUT21‑I 。

在同系列产品中，您还可以选择以下型号:

产品名称	型号	产地类型	价格
日本日立HITACHI FS LINE（混合型）超声波成像装置陶瓷无损探伤设备	FS LINE/FS LINE 混合型	进口	300元
日本KJTD SDSⅢ系列全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备	SDSⅢ系列	进口	300元
日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统	HYPER SCAN‑M4	进口	300元

官方链接：https://szsenze.cnpowder.com.cn/product_396756.html
来源：深圳森泽工业品有限公司

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