岩石矿物颗粒分析用飞纳扫描电镜 Phenom XL G3

产品简介

Phenom XL G3 是飞纳推出的一款大仓室台式扫描电镜，面向岩石、矿物及地质材料的微观分析需求，可对矿物颗粒形态、表面纹理、结构特征以及局部异常区域进行观察。

在岩石矿物研究过程中，颗粒大小、边界形貌、表面状态以及不同矿物相之间的差异，是开展材料分析和地质研究的重要依据。Phenom XL G3 能够提供清晰的微观形貌图像，帮助用户获取样品内部及表面的细节信息。

该设备采用 CeB6 灯丝电子源，电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可满足矿物颗粒观察、材料研发以及实验室常规检测等应用需求。

Phenom XL G3 配备大尺寸样品仓，支持** 100 × 100 mm 样品检测，并可同时放置多个样品。设备支持低、中、高三种真空模式，搭载背散射探测器，同时可根据分析需求配置二次电子探测器和能谱探测器，实现形貌观察与元素信息分析。

产品优势

1. 大尺寸样品仓，提升岩石矿物检测灵活性

采用大仓室设计，可承载** 100 × 100 mm 样品，支持*多 36 个样品同时装载，适用于岩石切片、矿物颗粒及批量样品分析。

2. 快速获取微观形貌信息

平均成像时间约 40 秒，可快速完成样品区域观察，提高矿物筛查、实验分析及日常检测效率。

3. 满足矿物颗粒微观结构观察需求

电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可用于观察矿物颗粒表面细节、结构特征及微小缺陷。

4. CeB6 灯丝电子源，稳定运行

设备采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时，可满足实验室长期检测需求。

5. 多模式真空环境，兼容不同样品

支持低真空、中真空和高真空三种模式，可针对不同类型岩石、矿物及地质材料选择合适的分析条件。

6. 多探测器组合，实现综合分析

标配背散射探测器，可选配二次电子探测器和能谱探测器，满足样品形貌观察、矿物区分及元素分析需求。

7. 台式结构设计，方便实验室应用

设备占地空间小，适合高校、科研机构、地质实验室以及企业检测部门进行日常部署。

应用领域

Phenom XL G3 可应用于：

• 岩石矿物颗粒形貌分析

• 矿石及地质样品检测

• 矿物晶体结构观察

• 岩石薄片微观分析

• 地质材料研究

• 矿物颗粒尺寸及分布观察

• 科研实验与第三方检测

技术参数

常见问题

1. Phenom XL G3 可以分析哪些类型的岩石矿物样品？

该设备适用于岩石、矿石、矿物颗粒、地质样品以及其他固体材料的微观观察，可用于分析颗粒形貌、表面结构及局部特征。

2. 是否支持矿物元素组成分析？

支持。通过选配能谱探测器，可对矿物颗粒、异常区域以及局部位置进行元素检测，为矿物成分判断提供数据支持。

3. 大尺寸岩石样品是否可以直接检测？

设备采用大仓室设计，**支持 100 x 100 mm 样品，可满足部分较大尺寸岩石及地质材料样品的观察需求。

4. Phenom XL G3 如何获取报价？

产品价格根据设备配置、探测器组合以及具体应用需求确定。用户可通过平台询价入口提交样品类型和测试需求，获取对应配置建议。

如需了解 Phenom XL G3 在岩石矿物颗粒分析中的应用案例、设备配置或测试方案，可通过平台留言提交需求，获取进一步产品信息。