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百特的“光学底牌”:双镜头斜入射为什么能把激光粒度仪灵敏度和分辨力拉上去?

百特的“光学底牌”:双镜头斜入射为什么能把激光粒度仪灵敏度和分辨力拉上去?
丹东百特  2026-07-31  |  阅读:45 400-810-0069转3338

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光路,是粒度仪的灵魂。长期以来,进口品牌凭借多光束拼接技术在市场上占据主导地位,但多光束拼接会产生散射光信号间断连接偏差,多波长光源会引入样品折射率测量偏差。如何用更简洁、更精准的光路设计突破这一瓶颈?百特用一张“光学底牌”——双镜头斜入射技术,给出了答案。

 

单光源的极限挑战

传统单镜头激光粒度仪面临一个根本性困境:散射光探测角度有限,难以覆盖从纳米到毫米级的全粒径范围。为扩大探测角度,国际主流厂商普遍采用双光源光学系统,包括同轴双光束系统和异轴双光束系统。

 

然而,双光束方案看似解决了角度覆盖问题,却带来了新的痼疾——两个光源轮流工作,每个光源对应一组散射信号,反演计算时需要将两组信号进行拟合,造成数据的不连续、不完整。此外,不同波长的光源本应匹配不同的样品折射率,而实际测量中却只能使用单一折射率参数,直接影响细颗粒端的测试准确性。

 

双镜头斜入射:用“无源”打败“有源”

百特的破局之道,是用一个无源器件——镜头,替代有源器件——激光器。双镜头斜入射光学系统由大功率泵浦偏振激光器、进口镜头组、石英样品池以及前向、侧向和后向光电探测器阵列共同组成。通过独特的激光斜入射设计,仪器仅依靠单光束便可完成全角度散射光信号采集。整套光学系统搭配96个分布于前向、侧向和后向的光电探测器,探测角度达0.02°至165°,测量范围覆盖0.01至3500μm。

 

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与双光束系统相比,这套方案的优势是结构性的:

第一,可靠性更高——镜头是无源器件,寿命和可靠性远高于激光器;

第二,基准唯一——单一偏振光光源使所有探测器接收的散射光强具有唯一基准,避免了双光源的基准偏差;

第三,信号连续——所有探测器信号连续采集、无间断,无需数据拟合;

第四,可测量样品折射率——能精确获取任何样品的折射率实部和虚部,从源头保障未知折射率样品的测试准确性。

 

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Bettersize3000plus激光图像粒度粒形分析仪

 

正反傅里叶结合:用一束光打穿全角度

双镜头解决了“用什么测”的问题,而正反傅里叶结合解决了“怎么测到”的问题。激光粒度仪的光学系统有正傅里叶和反傅里叶两种。百特将两者结合:前向和侧向散射光由反傅里叶光学系统产生、接收和处理,后向散射光信号由傅里叶光学系统产生、接收和处理。用一束单激光、一套光路,实现了散射光的全角度接收。

 

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2016年12月,百特正式提交了“一种正、反傅里叶光路结合的激光粒度仪”发明专利申请;2021年3月获得国家知识产权局授权。

 

技术验证:三个行业场景验证实战价值

锂电正极材料:D100精准捕捉。 锂电池正极材料的粒径分布直接影响电池性能。百特实验室采用Bettersize3000对磷酸铁锂连续测试7次,D10、D50、D90的重复性分别仅为0.13%、0.07%和0.09%,远优于ISO13320国际标准要求。

 

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更重要的是D100指标——传统激光粒度仪对D100的测量存在技术盲区而Bettersize3000的双镜头斜入射光路中并联了一套成像系统,能够实时捕捉大于50μm的粗颗粒影像,成功检测到锂电正极材料中3500μm的最大颗粒,填补了行业空白。

 

药用微球:百特BeNano 180 Zeta Max在PMMA微球混合体系测试中,对5.4μm、9.5μm、14.9μm和18.5μm四种粒径混合的微球体系,能够清晰分辨出多组分的各自峰位,分辨率优于1:1.5倍,展现了双镜头斜入射技术对多组分混合体系强大的识别能力。

 

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炭素在线监测:百特BT-Online1在线激光粒度监测系统直接安装在炭素输送管道上,通过文丘里技术自动取样、测量、回收,全过程密闭运行。系统可向控制中心实时传输监测信号,通过DCS系统自动调控生产设备,让炭素企业从“事后抽检”升级为“实时闭环控制”。

 

从2008年世界首台双镜头激光粒度仪Bettersize2000问世,到双镜头斜入射技术的成熟落地,百特用近二十年时间打磨出了这张“光学底牌”。它不仅让国产激光粒度仪在量程、准确性、重复性和分辨力等主要技术指标上达到国际先进水平,更用单光束、单光源的简洁方案,证明了在精密仪器领域,真正的技术领先从来不靠堆料,而靠对物理原理的深刻理解和精巧实现。

 

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参考来源:

丹东百特仪器有限公司

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