基于Phasics四波横向剪切干涉**技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率（160x120测量点），且使用简便。

SID4-HR 光学器件测量自适应光学

特点：

由于其独特的**技术技术，Phasics的SID4波前传感器具备以下特点：

1.超高分辨率：160x120测量点

2.直接测量发散和准直光束

3.从400到1100nm消色差

4.自校准：振动不敏感和容易对齐

5.紧凑，体积小

应用：

SID4波前传感器提供新的可能性应用：

激光：光束诊断、自适应光学

光学：精密透镜测试和表面测量

生物学：显微自适应光学

SID4产品参数：