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在粉体材料研发与质量控制工作中，实验室负责人常常面临一个两难抉择：采购激光粒度仪用于粒径分布检测，再采购一台颗粒图像分析仪用于粒形观察——两台设备、两套预算、两份维护成本。尤其在当前企业普遍追求降本增效的大背景下，如何在不牺牲检测能力的前提下优化设备投入，成为越来越多实验室的刚性需求。
一机双系统：激光测粒度，图像看粒形
Bettersize3000Plus采用“激光+图像”二合一技术路线，将激光衍射法的高精度粒度分析与动态图像法的直观形貌观察融合于同一台仪器之中。
这意味着，从研发阶段对新材料颗粒特性的全面探索，到QC环节对产品批次一致性的严格把控，同一台Bettersize3000Plus即可完成全流程的粒度与粒形检测任务。企业无需再为“测粒度”和“看粒形”分别配置专用设备，一台仪器覆盖两大检测需求，直接省下一台设备的采购预算。
核心技术：双镜头斜入射+动态双路远心显微成像
Bettersize3000Plus的技术底气，源于百特在光学系统上的深厚积累。
双镜头斜入射光学系统采用大功率泵浦偏振激光器、进口镜头组和全角度光电探测器阵列，在单光束条件下实现了全角度散射光信号的接收。
这一设计不仅达到了进口仪器用多光束技术扩大散射光角度的效果，更避免了多光束技术造成的散射光信号间断连接偏差和多波长引入的样品折射率偏差。测试范围覆盖0.01–3500μm，从纳米级细颗粒到毫米级粗颗粒均可精准测量。
动态双路远心显微成像系统并联于激光散射系统中，可实时拍摄流动中的颗粒图像，同步输出圆形度、长径比、粗糙度等关键粒形参数。
更重要的是，这一系统能准确捕捉样品中的最大颗粒，实现了D100的有效测量——这是传统激光粒度仪难以做到的，对锂电池、磨料等对超大颗粒敏感的行业尤为关键。
此外，Bettersize3000Plus还具备样品折射率实测功能，可对未知折射率样品先测折射率（包括实部和虚部），从源头保证粒度测试的准确性。
场景落地：研发深度表征+产线QC质控一机两用
研发实验室：深度解析粉体形貌，支撑配方迭代
新材料研发阶段，科研人员需同时掌握整体粒度分布与单颗粒形貌特征。例如锂电石墨材料研发中，Bettersize3000Plus同步测试D50、粒度跨度与颗粒球形度，快速验证球化工艺改良效果；
药用原料药检测时，通过长径比参数预判粉体溶出速度，图像存档可满足GMP研发数据追溯要求。
该仪器已应用于月壤、新能源材料、精细陶瓷等前沿粉体研究，山东大学、多家头部材料企业公共实验室均将其作为主力表征设备。
编号CE5C0400月球样品的颗粒形貌和粒度分布测试结果
质检QC实验室：批量快速检测，守住量产品质底线
产线质控无需复杂粒形图谱输出，仪器支持一键式SOP标准操作流程，自动生成粒度分布报告+球形度合格判定，搭配BT-A60自动进样器可连续检测60组样品，实现无人值守批量抽检。
全周期成本测算：一台设备省下整套仪器预算
设备采购成本： 传统方案需要分别采购激光粒度仪和颗粒图像分析仪两台设备。Bettersize3000Plus将两者合二为一，直接省下一台设备的采购预算。
运行维护成本： 一台仪器只需一套耗材、一套维保合约、一个操作人员的培训投入。两套独立设备则意味着双倍耗材消耗、双倍维护费用、双倍培训成本——这些隐性支出在仪器全生命周期（通常8-10年）中累积，差异可达数十万元。
检测效率提升： 单一样品检测仅需10秒，配合60位自动进样系统实现无人值守，单批次样品检测效率较两台设备轮换模式提升70%以上，实验人员操作强度大幅降低。
数据一致性优势： 同一台仪器、同一种方法、同一套标准，从研发到QC数据无缝衔接，消除了不同设备间的系统偏差。这一价值虽难以量化，却是研发效率与产品质量管控中的关键变量。
在当前企业普遍追求降本增效的背景下，Bettersize3000Plus以“一台设备的投入，两套系统的产出”，为实验室提供了一种更高效、更经济的颗粒表征解决方案。
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参考来源：
丹东百特仪器有限公司
