v 主要性能特点

1、同时分析测量多种元素（从F到U的任意多种元素）；

2、采用上照式设计，彻底避免污染，操作方便，无需维护；

3、对样品进行无损分析，分析方便快捷；

4、全自动机电一体化设计，操作界面简单；

5、单样品自动进样，自动检测，采用多层保护完全屏蔽X射线对人体的辐射；

6、良好的温度控制设备，仪器对外界的气温变化不敏感；

7、对样品形态要求少，固体、液体、粉末样品均可以直接检测，无需复杂的制样过程；

8、采用SDD探测器，分析速度快，精确度高，稳定性好，故障率低；

9、WINDOWS系统下的中文操作软件，方便国内用户使用。不同层次的操作员可随时调用相关帮助菜单来指导对仪器的操作。

v 仪器主要构成图

v 主要技术指标：

1． 探测器

Ø SDD硅漂移探测器（电制冷，只需要通电即可）

Ø 典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS).

Ø 输入计数率：1000KCPS，远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右)

Ø 峰背比：>25000

Ø 碳窗厚度：1um Dura 碳（一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率，独特的Dura技术

Ø  碳窗可以耐酸，碱的腐蚀）

Ø 处理器：数字电路，放大倍数，时间常数可任意设置。

Ø 高寿命，借助于其独特的Dura碳技术，探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏，晶体不会损伤，无需担心后期的维护费用

2.X射线管

Ø 高压：0-50Kv连续可调

Ø 电流：0-1000uA连续可调 （0-2500uA可选，大电流对Na-K有更好的激发效果）

Ø 功率：50W

Ø 稳定性：8小时0.2%

Ø 高寿命，正确操作的情况下寿命可以达到50000小时

2． 高压发生器

Ø 输入电压：24VDC

Ø 输入电流：4A

Ø 输出电压：50Kv，1mA(2.5mA可选，适配2500mA光管)

Ø **功率：50W

Ø 稳定性：8小时0.05%

3． 精密结构设计

Ø 垂直倒角设计，精密的控制保证优异的重复性，上照式设计可以完全避免灰尘的污染，使得仪器可以做到真正的免维护

4． 冷却散热系统

Ø 良好的多级温控自反馈电路，室温在5-25℃，仪器结果不会有影响。

5． 自动进样系统

Ø 单样品自动进样

6．  光谱分析系统控制和数据处理系统

Ø 12位模/数转换器

Ø 19英寸显示器

Ø 500G以上硬盘驱动

Ø 多功能标准键盘

Ø 打印机

7．  分析软件

Ø 元素测量范围：F-U

Ø 可以测量镀层厚度

Ø 标准曲线法，理论系数法，基本参数法，多元比例法 使您轻松应对各种样品的分析

Ø 开放式软件设计，您可以自己开发新的工作曲线

Ø 内置式参数设计，您在自己制作工作曲线时，各种干扰自动扣除。

8． 尺寸规格

Ø 长544mm宽572mm(含推手）高1152mm   

Ø 重量约110kg

9． 电源要求

Ø 220V±10% 50Hz

10． 工作环境

Ø 温度范围：5—30℃。

Ø 相对湿度小于等于80%