公司介绍
HORIBA 成立至今已有 70 多年，是一家历史悠久的跨国集团公司。总部位于日本，现已在全球 29 个国家设立 50 家分公司，构建了覆盖全球的开发、生产、销售与服务网络。在能源、环境、生物、医疗、先进材料与半导体等多个领域，HORIBA 为全球政府、高校及工业企业提供高精密的计量仪器和先进的检测分析工具。业务范围涵盖发动机排放检测、科学分析、环境监测、半导体工艺过程控制、体外医疗诊断、生物技术及新能源发展与利用等。多年来，HORIBA 顺应市场的不断变化，坚持创新，为全球客户提供具有高适配度、高附加值且性能卓越的产品与服务，是科研、企业研发、生产制造及质量控制的优选伙伴。
主推产品
Partica发展成就业界高端激光粒度仪产品，以精确可靠著称的HORIBAParticaLA-950V2已全新升级为LA-960。HORIBA系列粒度仪以在亚微米范围内的超强测量能力而闻名，新型号除了保有这一优势还发展出全新的特性。HORIBA依据多年经验，进一步完善数据运算方法，以不断满足用户对更高精度和更高分辨率的追求。新技术优性能宽的动态测量范围：0.01-5000微米HORIBA在宽粒径范围测量方面优势明显，的光学布局，采用三维数据模拟生成散射光谱图，可以与充分考虑到光学组件参数影响的理论计算结果进行比较，从而选择佳的分析方法。性能保证·高精度±0.6%·标准依据ISO13320·可溯
ViewSizer™3000实现了纳米颗粒追踪分析技术的突破性提升，包括特有的照射和检测方法，使得各种尺寸纳米颗粒的可视化、粒径和数量浓度测量成为可能。与传统的NTA一样，该仪器可对悬浮液中单个纳米颗粒的散射光进行可视化，然后利用这些数据来确定颗粒的运动并利用StokesEinstein方程推断颗粒尺寸，在此基础上利用已知的照射和成像的样品体积确定颗粒数量浓度。一次测量可得到两个关键信息：颗粒粒径分布和颗粒浓度。先进的多光源光学系统由于仪器采用了三种波长的可见光源(蓝、绿、红)，因而能够为样品测试选择较好的条件，克服NTA技术分析多分散样品时存在的局限性，能够对更大尺寸范围的颗粒进行可视化。此
SZ-100V2纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。SZ-100V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。产品特点·同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数·宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40%·自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定·软件操作简单功能强大，一键测量·双光路双角度粒径测量（90°和173°）·采用微量样品池技术参数粒径测量原理：动态光散射法（光子
HORIBA粒径分析仪LA-960
面议HORIBA纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000
面议HORIBA纳米颗粒分析仪 SZ-100 V2
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"传统药物诱导牙髓干细胞往成骨方向分化，通常要等10天以上；而我们构建的平台在超声激活下，3天内诱导出现早期成骨分化信号。更关键的是，我们能同时「看见」分化过程中内质网里那些分子指纹的实时变化——实现调控与监测一体化。"齐国华表示。齐国华是深圳大学医学部生物医学工程学院副教授，上述研究已经发表在《ACS Applied Materials & Interfaces》上。
过氧化氢（H₂O₂）是化工生产、环境治理和消毒等领域的重要基础化学品。目前，工业上主要采用成熟的蒽醌法生产过氧化氢，但这一过程能耗较高，并可能产生有害有机废物，带来一定的环境负担。相比之下，以水和氧气为原料，通过人工光合作用合成过氧化氢，反应条件温和，并具有节能、绿色等优势，被认为是一种很有潜力的替代路线。不过，这一设想真正实现起来并不容易。光催化材料吸收光能后产生的电子和空穴容易快速复合，尚未来
如何搭建电化学原位拉曼测试体系？如何应对信号干扰、荧光背景等测试问题，采集弱信号？又该如何解析电化学拉曼图谱？2026年10月22日，“拉曼光谱技术在电化学领域的应用与实践”技术研讨沙龙将在线上举行。四位嘉宾将围绕原位测试体系搭建、数据解析与实验优化展开分享，欢迎带着科研中的实际问题，一同交流。2026 年 10 月 22 日 19:30–22:30腾讯会议｜540 729 949线上技术分享 +
氮化镓、砷化镓、磷化铟等化合物半导体材料，广泛应用于功率与射频器件、Micro LED、VCSEL以及光通信等领域。从材料与外延研发，到后续器件制造，不同材料、不同应用所关注的量测信息并不相同。峰值波长、发光强度、FWHM、Al 组分、膜厚、BOW……这些参数分别可以用于哪些外延表征？面对 GaN、SiC、Micro LED 等不同应用，PL 又可以提供哪些缺陷与发光信息？从外延膜层开始，PL 可
轻量化正在全面重构整车材料体系。铝合金、高强钢、镁合金、复合涂层多层叠加已成为行业主流，元素含量、镀层厚度、浓度梯度、界面质量等关键指标一旦失控，极有可能导致整车性能不达标。HORIBA GD Profiler 2 辉光放电光谱仪适配车用材料深度分析，帮助车企以数据驱动研发与品控决策。GD Profiler 2辉光放电光谱仪高精度 | 全覆盖 | 广适配传统元素分析手段检测精度不足、效率低，无法匹
2026 年 8 月 21 日，HORIBA 中国事业 30 周年庆典在北京、上海两地同步举行，来自汽车、环境、先进材料、半导体、能源等领域的客户、合作伙伴、行业嘉宾及 HORIBA 员工约 400 人出席活动。庆典回顾了 HORIBA 与中国产业三十年同行的发展历程，分享了 AI 驱动产业变革下的观察与应对，并宣布推进半导体业务本地化扩张，进一步加强在中国的产能、研发与服务能力建设。一场庆典，三
在深空探测任务中，高精度光学光栅作为光谱分析的核心部件，能够捕捉遥远天体的微弱光学信号，精准解析行星大气成分、磁场活动与极光现象，为人类探索宇宙奥秘提供关键观测依据。NASA 于 2011 年发射的 “朱诺号” 木星探测器上，搭载了紫外光谱仪（UVS）与木星极光红外成像仪（JIRAM），这两台科学仪器上均采用了 HORIBA 高精度光栅，为木星探测任务的长期稳定运行和高质量科研数据获取提供了坚实保
以“先进材料分析测量技术，解锁新质能源发展密码”为主题，2026 年度堀场雅夫奖现已开放申请。本届奖项聚焦能源器件与材料研发制造的分析测量技术创新，助力提升能源设备性能与可靠性，推动全球能源转型与碳中和目标落地。关于堀场雅夫奖堀场雅夫奖设立于2003 年，以 HORIBA 集团创始人堀场雅夫（Masao HORIBA）先生命名，该奖项每年会聚焦不同领域的主题，吸引大量研究人员提交申请参评，最终组委
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