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产品概述MProbeVis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs，InGaAs，CdTe，CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbeVis测厚仪测量。比如：氧化物，氮化物，光
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