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产品分类
产品简介
一、产品介绍
测试对象：偏光片、双折射材料、离型膜、补偿膜
测试项目：1.补偿膜的波长分散性、面内补偿值Re、厚度方向补偿值 Rth
三维折射率、全波段透过率、光轴方向、预倾角 Beta；
偏光片的透过率（单体、平行、直交）、偏光度，色度（Lab)等
2.复合膜的贴合角测试：偏光片与波片（圆偏光）的贴合角、
相位差及全波段椭圆率
3.偏光片：吸收轴角度测试，透过轴角度测试
新开发功能:液晶盒厚、预倾角和扭曲角测试；液晶QWP的等效光轴及相位差
二、优势特点
1、可以测试0-20000nm的相位差范围
2、可实现超低相位差测试，可解析Re为1纳米以内基膜的残留相位差
3、 高相位差测试，可对离型膜、保护膜等高相位差样品进行检测
4、搭载多波段光谱仪,检测项目涵盖偏光片各光学性能，高精密高速
三、规格参数
| 测量对象 | 偏光片、相位差膜、光学膜 |
| 测试光斑 | 3mm |
| 轴角度测试范围 | 0~180°，±90° |
| 光轴角度精度 | 根据不同样品从 0.02°~0.05° |
| 吸收轴测试精度 | ≦0.02° |
| 相位差测量重复性 | ≤0.08nm |
| 正面位相差读数分辨率 | 0.001nm |
| 厚度方向标准位相差读 数分辨率 | 0.001nm |
| RTH 厚度位相差精度 | 1nm |
| 测试波长范围 | 400nm-800nm（可拓展） |
| 测试波长*小间隔 | 1nm |
| 补偿值测试范围 | 0nm - 50000nm |
| 偏光度 | ≦0.01% |
| 选配 | 锥光镜头：测试曲面样品；**零度起偏器：测试液晶QWP的等效光轴及相位差 |
| 光谱仪参数 | 波长精度：±0.2nm |
| 光谱杂散光：＜0.05%（400nm） | |
| 信噪比：2000:1 | |
| 样品尺寸 | 6 寸 |
| 本体尺寸 | 1375px✖宽 1125px✖高 1750px |
| 保修时间 | 1 年 |
| 增值服务 | 新功能免费更新 |
| 注意事项：针对不带雾度及散射的样品，在测试透过率，偏光度等参数 时，可直接测得**值；在测试带雾度及散射的样品时，由于结 构上无法追加积分球，测得的透过率，偏光度等参数为相对值， 可根据其他仪器（例如分光光度计）去提取公差 | |
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