颗粒图像分析仪EyeTech是新一代颗粒粒度和粒形分析仪。我们在粒度和粒形分析方面具有丰富的经验，为各种应用引入了满足各种不同应用需求的粒径粒形分析方法。

激光粒度粒形分析仪

测量原理

粒径分析 (PSA)

EyeTech 激光粒度仪采用有名的激光遮挡法（LOT）。这是一种针对旋转的激光光束遮挡时间 的粒径分析技术。样品中颗粒被聚焦的He-Ne 激光扫描，该激光采用楔形棱镜，以200Hz的速度旋转。在角速度已知的情况下，每一颗粒的直径都可以用遮挡信号的持续时间来计算。这免除了其它分析技术所需的对检测器灵敏度进行校正的必要性。

EyeTech 激光粒度仪具有高精度、可靠性和重复性。我们激光方法在600个不连续的时间间隔进行粒径测量，得到高分辨率的粒径分布。颗粒粒径是直接测出来的，而不是通过粒径的二级特点推算出来的。不受折射率指数、粘度变化、布朗运动、热传导和其它物理现象的影响。

动态粒形分析 (DSC)

动态粒形分析采用样品的原位图像来分析粒形特征。收集颗粒数字图像并分析大量形状参数。动态显微镜同步频闪光在颗粒在动态流动过程中，可以连续捕捉“静止”图片。这样就不必停止液体流动和限制对静止物体的监测。大量图片被放大、处理和自动分析，确保结果具有充分的代表性。图像和统计数据都可以打印或储存，作为样品记录。

激光粒度粒形分析仪

特别特征

模块化设计

可互换的测量池模块能够分析各种状态的颗粒，液体、粉末、气溶胶、膏状、薄膜和乳剂。还有特别的测量池用于高浓度样品测量。采用基于工业P4 电脑开发的ACU，模块化的EyeTech可以被很方便地整合到任何实验室。