由中国颗粒学会主办的“第十四届中国颗粒大会（CCPT14）”将于2026年11月5-8日在广州市举办。

本届大会围绕颗粒学前沿、学术热点、研发进展等核心内容深入交流，总结学会四十年来的发展成就，领航学科与产业未来方向，打造产学研用融合的综合交流平台。

此次，大昌华嘉科学仪器DKSH将携带麦奇克激光粒度粒形分析仪、比表面及孔隙度分析仪亮相展台，面向颗粒特性与测试的核心需求，提供从粒度分布、粒形参数到比表面积、孔隙结构的多参数协同表征方案。

大昌华嘉展位号：A20

激光粒度粒形分析仪（SYNC）

麦奇克在激光衍射和动态成像领域的技术积淀，为开发先进、行业领先的颗粒表征解决方案奠定了坚实基础。

•激光衍射技术：基于 Fraunhofer 和 Mie 散射理论，符合 ISO 13320:2020 及 ISO 13322-2 标准

•测量范围：0.01 – 4000 µm

•专利三激光系统，检测角度高达 165°

•多波长激光（780 nm 红光、405 nm 蓝光），提升亚微米级灵敏度

•对球形及不规则透明颗粒进行补偿校正

•准确分辨窄分布及多峰分布样品

•可检测微量过粗及过细颗粒

•同步测量 + BLEND 分析，同时获取粒度及 30 余种粒形参数

•快速出结果，约 30 秒

•模块切换（湿法/干法、手动/自动）迅速，< 15 秒

•完整的 IQ/OQ 验证，符合 FDA 21 CFR Part 11 规范

比表面及孔隙度分析仪（BELSORP MINI X）

采用容量法测定样品比表面和孔径分布的分析仪，该仪器设计紧凑、分析精度高、重复性好、操作简便。

• 比表面积范围：0.01 m2/g 或者更低到无限

• 孔径分布：0.35-500 nm

• 同时测量多达3-4个样品，具有高水平的精度和重复性，并大大缩短了测量时间

• 专用排气阀和改进的软件大大减少了测量时间

• 采用先进的自由空间校准技术，提高了测量精度和重现性。

• 针对制药领域，仪器可选21CFR part11 软件和IQ/QQ文件

根据不同的研究应用方向，大昌华嘉设立三个专业团队：

① 材料科学：微纳米粒度粒形分析、高浓浆料Zeta电位、接触角/表面张力测定、物理/化学吸附、比表面及孔隙分析、通孔分析、纳米颗粒跟踪分析（NTA）；

② 物理测试及化学分析：有机元素分析、X射线荧光光谱（XRF）、X射线显微镜（XRM）、总有机碳（TOC）、氯离子色谱（CIC）、硫氮氯分析、有机卤素（AOX）、旋光/折光/密度测量、水分活度分析、氨基酸检测、薄层色谱、反应量热；

③ 稳定性分析：光散射稳定性评估、微流变分析。