Optino波前探测系统不仅仅是一个波前探测系统，更是一个完整光学综合测试系统不仅可以用于实验室光学测试，也可以适用于生产环境条件可测试的光学元件和系统透镜、非球面透镜相机、手机摄像等镜头测试棱镜球面、非球面、平面镜各种滤光片隐形眼镜、眼科镜片复杂光学系统平视显示系统（HUD）研磨板晶圆（wafer)激光可测试评价的项目光学失常、像差测试波前或表面重建光学元件透过率测试平面度测试楔角测试复杂光学系统对准准直焦长测试MTF(调制传递函数）PSF(点扩散函数）Strehlratio激光光斑品质、光束、M2、发散角测试主要型号及功能特点产品系列主要特点Omi基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann)原理，基本型，价格优惠OptinoUno基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann)原理，基本型增加一个固定的准直器，用于光源准直。具有所有光学分析所需的基本功能，包含光纤光源。15种针对不同测试需求的配置无隔行快速读出1Kx1K相机信号固定准直器（平行光管）基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多项式系数、波阵面、StrehlRatio等.软件根据测到的像散、球差等提供调校指令根据软件的图形指示，依据参照标准或镜面的CCD像面，对光学元件的焦距进行实时斜率调整图像分析功能根据Shack-Hartmann数据计算MTF、PSF、EE等数据（可选配置）仿真模拟功能（可选配置）OptinoPro专业版具备OptinoUno功能外，增加马达驱动的准直器（平行光管），以及先进的软件功能，具备高度自动化。准直器可自动寻找焦点，也可对光束进行分析。OptinoEE工程版具备OptinoPro所有功能，具备更强大的软件功能，并经过优化，可以使用生产环境中使用，测试速度快。采用回馈环路控制，并以10Hz的采样频率进行光学质量测试。Optino+Beamprofiler光束分析具备OptinoPro所有功能，另外加装第二个CCD，用于光斑形貌分析，光束失常及测量可同时在一台设备上实现。干涉仪与波前探测系统比较Optino波前测试系统相对于干涉仪的优点干涉仪Optino波前系统1购买、运行、维护费用高非常便宜2系统体积大，需要大型光学平台结构紧凑，普通桌子就可以3需要昂贵的隔振平台非常耐用，无需隔振，普通桌子就可以，即使重击桌子也不会影响测试结果或仪器性能4需要洁净室普通干净的实验室环境足够了5需要控制测试现场的气流可以在紧靠打磨机器工作现场使用6需要激光光源普通光源或激光均可7由于激光波长范围有限，只能工作在有限的几个波长任何波长均可工作，从193nm到1700nm，软件功能不受波长和配置的影响8仅限于测试平面、球面及浅度非球面测试可以测试深度非球面元件（球形失常值达50λ）9不能测试非规则形状元件可以测试非规则元件，如柱面镜10动态范围受CCD探测器上干涉条纹限制，方法本身具有高动态特性OptinoProvs.ZygoGPIxpHRInterferometer:通过使用ZygoGPIxpHR干涉仪和Spot-Optics公司的Optino波前测试系统对一个硬盘上小面积(7mm)区域，进行测试对比。右图白色圆圈位置的区域即为测试区域，是一个平整的表面，测试的波长为632nm，下图为主要测试得到的参数对比：去除了倾斜(Tilt)，Pistonand散焦(defocus)影响后的表面3D形貌图（Zygo）去除了倾斜和散焦的3D表面形貌图(Optino)由上可见:基于Shack-Hartmann测试原理的Optino可以获得与Zygo干涉仪一致的测试结果