您可以从两种高性能，双聚焦扇形磁场ThermoScientific™ELEMENT™系列ICP-MS仪器中选择，这些仪器针对易用性、稳定性和分析效率进行了优化。ELEMENT2™ICP-MS提供强大的技术来解决特定问题，同时具备优异的灵敏度和信噪比。ThermoScientificELEMENTXR™ICP-MS结合法拉第检测器与双模式SEM检测器将ELEMENT2ICP-MS的线性动态范围扩展了三个数量级。在痕量元素定量分析方面，ICP-MS拥有最为强大的技术水平。ICP-MS最严重的限制是对元素信号的多原子干扰。高质量数分辨率是消除这些干扰的金标准，可在痕量水平上准确可靠地进行多元素定量分析，样品制备步骤极为简便。多元素分析多元素检测器可处理瞬变信号，包括HPLC、GC和激光消融。元素周期表中的无干扰测量涵盖基质组分（mg?L-1）和超痕量元素（低于1pg?L-1）。最高灵敏度ICP-MS（低分辨率时）。灵活性和可用性高质量数分辨率可获取谱干扰同位素，生成清晰的元素谱对无干扰或受干扰同位素进行高精度同位素比分析。热等离子体和冷等离子体状态。ELEMENTXRICP-MS宽线性动态检测范围对于ICP-MS来说至关重要，因为其允许通过单次运行分析较宽的浓度范围。集成式法拉第检测器的特性：采样时间低至1ms。测量高强度峰后无需衰减时间SEM和法拉第之间自动切换，延迟时间为<1ms。不同检测器模式之间的线性交叉范围较宽（>2个数量级），允许准确进行自动交叉校正。动态范围为0.2cps（SEM）到>1x1012cps（法拉第）。