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光谱检测分析仪
HORIBA高灵敏一体式FluoroMax+荧光光谱仪
HORIBA DeltaFlex超快时间分辨荧光光谱仪
HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统
紫外可见红外分光光度计V-7000系列
JASCO显微紫外可见近红外分光光度计
红外显微镜
JASCO荧光光谱仪FP-8000系列
JASCO紫外可见分光光度计V-700系列
JASCO日本分光V-770紫外可见近红外分光光度计
HORIBA Duetta荧光及吸收光谱仪
光学仪器及设备
Synapse CCD探测器
HORIBA JY研究级全自动椭偏仪UVISEL 2
HORIBA JY在线椭偏仪In-situ series
HORIBA JY一键式全自动快速椭偏仪Auto SE
智能型多功能椭偏仪Smart SE
JASCO日本分光P-2000全自动旋光仪
色谱仪
手性高效液相色谱仪
JASCO高效液相色谱LC-4000系列
美国SRI 8610C气相色谱仪(农药残留分析)
美国SRI 8610C气相色谱仪(环境气体分析)
美国SRI 8610C气相色谱仪(常规气相检测)
美国SRI8610型气相色谱仪
分离/萃取设备
Jasco超临界萃取/色谱系统(SFE/SFC)
质谱检测分析仪
HORIBA JY等离子体分析飞行时间质谱仪
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产品描述
原理:等离子体分析飞行时间质谱仪结合了辉光放电等离子体的溅射速度和时间飞行质谱的快速以及高灵敏度,实现了高分辨率和高灵敏度条件下固体材料的快速化学深度剖析。
重点应用领域:
● 掺杂分析(半导体、光电子、太阳能光伏、传感器、固态光源)
● 表面和整体污染鉴定(PVD 镀层、摩擦层、电气镀层、光学镀层、磁性镀层)
● 腐蚀科学和技术(示踪物、标记监测、同位素标记)
● 界面监测
技术参数:
● 采集速率:每30μs一张全质谱
● 质量分辨率:选择高分辨率模式时,在m/z 208可达 5000
● 动态范围:107
● 质量准确度:40 ppm
● 灵敏度:103 cps/ppm
● 深度分辨率:nm
● 正负离子模式
● 4个离子的灵活消隐功能
● 简单易用的水平样品装载
产品特点:● 样品分析快速无预处理:无需超高压腔
● 适用于各种材料及镀层分析
● 全质量覆盖:可提供从 H 到U元素的完整质谱和分子信息,包括同位素监测
● 独有3D 数据,脉冲射频模式(**)
● 高深度分辨率:测试薄层可至 1nm
● 薄层到厚层:层厚可达 100μm
● 无需校准的半定量分析:溅射和电离过程分离,使得基体效应*小化