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测量/计量仪器
蔡司MMZ G大型三坐标
蔡司MICURA小型三坐标测量机
蔡司XENOS
DuraMax
蔡司在线三坐标测量机GageMax® CNC
ZEISS CenterMax
ACCURA三坐标测量机
蔡司SPECTRUM II
蔡司CONTURA
厚度规7360
光学仪器及设备
共聚焦显微镜平台STELLARIS
徕卡数码显微镜DCM8
工业倒置显微镜徕卡DMi8 M / C / A
材料分析显微镜 徕卡DM1750 M
微电子和半导体检查系统 DM3 XL
立式材料显微镜 徕卡DM2700 M
美能达色差计
FEI扫描电镜
扫描仪配合设备-shot
形创三维扫描仪跟踪定位器c-track
试验机
IMT摆锤冲击仪
英斯特朗MPX系列摆锤冲击试验机
英斯特朗MDX系列大载荷液压万能材料试验机
8803电液伺服疲劳试验系统
疲劳试验检测服务8800
MTS金属摆锤冲击试验机
进口万能试验机MTS CHT4605
SATEC系列大载荷液压万能材料试验机
ElectropulsE10000拉扭双轴落地式系统
3300系列双立柱台式电子万能材料试验机(拉力机)
包装行业专用仪器
水蒸气渗透分析仪Lyssy L80-5000
水汽透过率分析仪7101
氧渗透分析仪8200
先进的静态和动态摩擦系统
先进的摆锤冲击系统
通用型落锤冲击测试仪
FD-A2高级落地落镖冲击测试仪
手动高级落镖冲击测试仪
撕裂度测试仪
7000系列水蒸气透过率分析仪
工业在线及过程控制仪器
气瓶氧气取样分析系统
可编程氧气分析仪542
气瓶氧气采样分析系统
本安型便携式氧气分析仪EC92DIS
EC96缺氧/富氧检测仪
GS6000系列顶空分析仪
Zr810氧化锆氧分析仪
5250i氧气和溶解氧分析仪
GS系列顶空分析仪
8000系列氧气透过率分析仪
光谱检测分析仪
赛默飞直读ARL3460直读光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8860
赛默飞ICAP7000电感等离子体发射光谱仪
炉前显示系统
美国热电ICE3300原子吸收光谱仪
美国热电ICE3400原子吸收光谱仪
美国热电ICE3500原子吸收光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8820
美国热电直读光谱仪ARL4460
美国热电直读光谱仪ARL3460
无损检测/无损探伤仪器
工业内窥镜C40-6015TH
美国泛美EPOCH 4B便携式超声波探伤仪
进口超声波USM35XDAC探伤仪
古安泰工业高清内窥镜
古安泰分体式/台式工业内窥镜
数字型超声波探伤仪
古安泰工业内窥镜C40
元素分析仪
氧氮分析仪TCH600
氧氮分析仪Tc500
氧氮氢分析仪(熔融法)ONH836
碳硫分析仪CS114DR
碳硫分析仪Cs600
碳硫分析仪Cs230
碳硫分析仪(燃烧法)CS844
橡塑行业专用测试仪
薄料微切割机
CNC模型1测试样本轮廓切割机
自动循环测试样品切槽机
测试样品注射成型设备
HDV6热变形维卡测试仪
带自动切断的熔融指数仪MFR200
针对高熔指聚合物的6MPCA高级融指仪
制样/消解设备
手动切片机
PCP气动冲切刀
美国标乐精密切样机
美国标乐全自动热镶机
美国标乐自动磨抛机
其他
Discovery Pro分析密度天平
Adventurer Pro分析密度天平
二手三坐标销售
Kestrel® 3000手持风速测量计
X射线仪器
手持式光谱仪
美国热电ARL 9900 XRF
ARL OPTIMX X射线荧光光谱仪(XRF)
ARL QUANTX X射线荧光能谱仪(EDXRF)
水分测定仪
水分测定仪MM400
水分测量仪MM300
水分检测仪MM500
激光粒度仪
徕卡清洁度检测系统
德国PAMAS S40便携式颗粒计数器
德国PAMAS SBSS实验室台式颗粒计数器
实验室服务
激光跟踪仪在轧机上的检测
法如激光跟踪仪轧机检测
进口法如关节臂/便携式三坐标租赁检测服务
比表面积测定仪
表面音波张力仪U508
电子式张力仪
测厚仪
超声波测厚仪DM5E Basic/DM5E/DM5EDL
超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL
质谱检测分析仪
美国热电ICP-MS
ELEMENT™系列ICP-MS
石油专用分析仪器
理学超低硫分析仪Micro-Z ULS测硫仪
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产品系列
XENOS可在各类要求较高测量精度的领域使用——从科研机构的测量实验室、航空和航天工业直至光学工业。这一高端测量机的测量精度达到技术限,其测量范围近1立方米。创新的机械设计XENOS采用了全新的机械设计理念。与标准桥式测量机不同:Y导轨分布于侧壁顶部,分离式移动行程轴仅横梁于Y轴方向移动,更小及恒定的移动重量——与移动式平台相比堪称真正的优势。更低及恒定的移动重量造就了加速及较高速度的**统一。所有轴均采用线性驱动XENOS的所有轴均采用线性驱动。其优点:高速、加速快、定位精度高、驱动无剪切力影响。结合超高分辨率光栅尺技术,XENOS的线性驱动可获得高度稳定性及低于100纳米的高定位精度。例如,测针偏移量越恒定,即可获得更佳的测量精度。于测量曲面时更显见另一优势:测针的移动路径与预定值越吻合,即可实现越出色的精确性。虚拟中央驱动XENOS于Y轴向配备双线性驱动系统,得益于蔡司较新的中央驱动技术可实现较佳的同步控制。该技术可据X轴位置**分布驱动力。作为较新控制系统及算法之**结合,这是在整个测量范围内获得较佳测量精度及运动稳定性的关键因素。碳化硅陶瓷XENOS在与精度密切相关的机器部件上采用创新的碳化硅陶瓷材料。迄今为止,该材料从未在类似产品或精度的测量机器上得到使用。与常规陶瓷相比,碳化硅陶瓷的热膨胀性降低约50%,而刚性则可较大提升30%,同时减重20%。与钢材相比,碳化硅陶瓷重量降低50%而竟仍可获得两倍的刚性。加强型VAST goldXENOS采用蔡司VAST gold测量探头。在研发过程中,蔡司在测量精度和测量重复度方面对该探头进行了优化。XENOS也采用了新型刚性连接。VAST gold探头可与较大长度为800毫米的测针以及较大重量为500克的测针配套使用,包括非对称型测针。优化的气浮轴承全新强化处理气浮轴承具有更佳的稳定性及测量精度。改进的电子设计通过全新的电子设计,移动线缆对精度影响显著降低。计算机辅助精度修正(CAA)法和特殊附加CAA修正技术在获得较大测量精度的过程中扮演着日趋重要的作用。