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产品描述
太阳能电池IV特性分布测量系统是一种新型的太阳能电池测量设备,它同时具备IV特性mapping测量,缺陷分析功能,QE量子效率Mapping测量等功能。
可图像化地显示电池或组件效率分布,可用于缺陷分析。单晶硅,多晶硅,CIGS,染料敏化,有机太阳能电池或组件都能进行测量。
采用测试方法是:条形模拟太阳光按设定的多个方向扫描照射光伏电池表面,扫描过程中同时采集IV特性数据,获取的数据经过CT(计算机断层扫描)计算可得到直观的全范围内每一点IV特性图像。
技术特点:
可应用于各种太阳能电池和组件;
**可测量电池或组件尺寸:1mm×1mm to 156×156mm,500mm×500mm,1500mm×1500mm or更大;
测量时间,小于1分钟(6英寸片)
单点或全区域的IV特性数据分布
AM1.5滤片,可见光,红外光滤片
辐照光强one sun,且0.1~7sun可调;
温度控制单元
缺陷检测功能
全自动测量软件
测试功能:
全面积范围内电流密度、短路电流、填充因子、转换效率、内阻等IV特性分布Mapping测量;
全面积范围内光谱响应SR、量子效率QE Mapping测量;
指定点、微区光谱响应SR、量子效率QE Mapping测量;
指定点、微区内电流密度、短路电流、填充因子、转换效率等IV特性分布Mapping测量;
单一波长下全面积范围、指定点、微区IV特性分布mapping测量;
定电压下电流密度分布Mapping测量;
效率不均匀度分布分析、分流分析、失效分析等;