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光学仪器及设备
DRV-Z1人机工效学全高清FHD裸眼3D变倍观察
美国SONIX超声显微镜ECHO VS
发射扫描电子显微镜ReguluS
扫描电子显微镜FlexSEM 1000
扫描电子显微镜AeroSurf 15
场发射透射电子显微镜HF-3300
透射电子显微镜HT7800系列
球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
离子溅射仪MC1000
场发射扫描电镜热场式SU5000
测量/计量仪器
2D大视场测量显微镜TVM35
高精度光学测量显微镜Hawk Elite
工具测量显微镜Swift Pro Elite
尼康CNC影像测量VMZ-R3020
德国Werth三坐标测量机
Werth台式复合式光学三坐标测量机VideoCheck-IP
Werth台式复合式光学三坐标测量机ScopeCheck
Werth双频白光干涉白点测量传感器WIP
Werth自动寻边的测量机EasyScope 3D man
Werth高精度复合式光学三坐标VideoCheck IP Basic
制样/消解设备
Allied楔形电子显微镜制样夹具
Allied手工样品固定器
Allied自动磨抛机E-PREP 4™ (PH-4I™ )
Allied自动研磨抛光机MetPrep 3™
Allied自动研磨抛光机MetPrep
Allied自动注液机AD-5™
Allied双盘手动磨抛机TwinPrep 5™
Allied手动研磨抛光机MetPrep 1™
Allied手动研磨抛光机M-Prep 5™
Allied基材厚度测量仪X-PREP® VISION™
无损检测/无损探伤仪器
Werth计量型CT TomoScope L
Werth计量型CT TomoScope S
Werth计量型CT TomoScope S HA
Werth计量型CT TomoScope XL
Werth计量型CT TomoScope XL NC
Werth计量型CT TomoScope XS
尼康CT扫描工作站XTH450
尼康CT扫描工作站XTH225
尼康CT扫描工作站XTH320 LC
尼康X射线检测站XTV160
半导体行业专用仪器
化学开封机Elite Etch Cu ESD 7200
化学芯片开封机Elite Etch Cu 7100
化学芯片开封机Injector 7400
化学芯片开封机Mega Etch 7300
Nisene化学芯片开封机TotalProtect
Nisene化学芯片开封机JetEtch Pro
激光单粒子效应SEE测试仪
Nisene化学芯片开封机CuProtect
Nisene等离子芯片开封机PlasmaEtch
化学芯片开封机Elite Etch 7000
其他
布洛维通用硬度计DuraVision G5
洛式硬度计DuraJet G5
全自动显微维氏硬度计DuraScan G5
便携式齿轮洛式硬度计N7
便携式深孔内径硬度计N6P
相关仪表
Aberlink-Trimos关节臂坐标测量机
联系方式 |
产品系列
产品描述
ScopeCheck 300/200/200主要特点:
◆适用于计量室和现场测量的高性能复合型三坐标测量机
◆ 高精度重载型大理石基座,整体落地式结构,确保测量稳定性
◆ 模块化测量系统设计,解决了特殊工件测量问题,如测量花键跨棒距
◆ 强大滤波功能,能够完成复杂的滤波如:噪声滤波、除尘滤波、毛刺滤波等,保证测量准确性
◆ 人性化操纵杆面板具有元素快捷键按钮,例如具有点、线、圆、面等快捷按键,操作灵活
◆ 可选配Werth Zoom**变焦系统,80毫米大工作距离,十级自动变焦
◆ 选配接触式测头、点激光、线激光、光纤、色敏(测量透明工件)各种 传感器及彩色CCD图像处理系统
技术参数:
型号 | ScopeCheck300/200/200(精密型) | ScopeCheck300/200/200(标准型) | |
测量范围 | (X轴) | 300mm(400mm可选) | 300mm(400mm可选) |
(Y轴) | 200mm | 200mm | |
(Z轴) | 200mm | 200mm | |
分辨率 | 0.1μm | 0.1μm | |
工作距离 | 50mm(80mm选配) | 50mm | |
工作台承重 | 30kg(更大可选) | 30kg(更大可选) | |
定位速度 | 200mm/s2 | 200mm/s2 | |
加速度 | 350mm/s2 | 350mm/s2 | |
仪器重量 | 380kg/480kg | 380kg/480kg |