大昌华嘉科学仪器部
大昌洋行(上海)有限公司
400-810-00693838
中国粉体网 认证,请放心拨打!
首页 > 产品中心 > 纳米粒度仪 > 纳米粒度及zeta电位仪 Nanotrac wave II
产品详情
纳米粒度及zeta电位仪 Nanotrac wave II
纳米粒度及zeta电位仪 Nanotrac wave II的图片
参考报价:
面议
品牌:
美国麦奇克/Microtrac
关注度:
21627
样本:
暂无
型号:
Nanotrac wave II
产地:
美国
信息完整度:
典型用户:
暂无
认证信息
白金会员 第 11
名 称:大昌华嘉科学仪器部
认 证:工商信息已核实
访问量:2477827
手机网站
扫一扫,手机访问更轻松
产品分类
公众号
产品简介

纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术

Zeta电位测量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解,经过多年的市场调研和潜心研究,开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术,融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体,无需传统的比色皿,一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比,NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计,配置膜电极产生微电场,操作简单,测量迅速,无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层,无需外加大功率电场,无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池,完全消除由于空间位阻(不同光学元器件间的传输损失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差异,分散介质的影响,颗粒间多重散射等)带来的光学信号的损失,结果准确可靠,重现性好。


测量原理:

粒度测量:动态光背散射技术和全量程米氏理论处理

Zeta电位测量:膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率

分子量测量:水力直径或德拜曲线


光学系统:

3mW780nm半导体固定位置激光器,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正光路


软件系统:

先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告,及各种文字处理功能,如PDF格式输出, Internet共享数据,Microsoft Access格式(OLE)等。体积,数量,面积及光强分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保护,电子签名和指定授权等。


外部环境:

电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

环境要求:温度,10-35°C

国际标准:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008


主要特点:

• 采用先进的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法

• “Y”型光纤光路系统,通过蓝宝石测量窗口,直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布,在加载电流的情况下,与膜电极对应产生微电场,测量同一体系的Zeta电位, 避免样品交叉污染与浓度变化。

• 异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性。

• 可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度。

• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

• 快速傅利叶变换算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间。

• 膜电极设计,避免产生热效应,能准确测量颗粒电泳速度。

• 无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,仅需点击Zeta电位操作键,一分钟内即可得到分析结果

• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度。

产品参数
粒度分析范围0.3nm-10µm
重现性误差≤1%
浓度范围100ppb-40%w/v
检测角度180°
分析时间30-120秒
准确性全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子
测量精度无需预选,依据实际测量结果,自动生成单峰/多峰分布结果
理论设计温度0-90℃,可以进行程序升温或降温
兼容性水相和有机相


  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
我要咨询关闭
  • 类型:*     
  • 姓名:* 
  • 电话:* 
  • 单位:* 
  • email: 
  •   留言内容:*
  • 让更多商家关注 发送留言