V-Sorb4800S静态法比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪应用领域 1)超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定； 2)粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测； 3)高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验； 4)电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定； 5)其它与材料表面性能相关的研究工作. 全自动静态法4站比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪特点 A.比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪数据采集及处理 1)采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式; 2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理. B.比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪真空系统 1)**的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度; 2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换; 3)采用德国原装进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能**,极限真空度高,可达4x10-2Pa(3x10-4Torr). C.比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪控制系统 1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便; 2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染. D.比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪提高测试精度措施 1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程精度(FS)传感器; 2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr(可选)和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr(可选)的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％); 3)**的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差; 4)**的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差; 5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移. 全自动静态法比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪简介 V-Sorb4800S静态法4站比表面检测仪，氮吸附比表面分析仪，比表面积仪是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积检测仪器,众多**科研院所及500强企业应用案例,采用静态容量法测量原理;相比国内同类产品,多项**技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品. 金埃谱科技是国内*早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性**,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模**,**通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!