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YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器，测试脚数最大为双列直插式40脚，可测范围复盖了大多数的数字集成电路，测试准确可靠，操作简便，基本功能如下:
       * 器件好坏测试                    * 器件型号判别              
       * 器件动态老化                    * 器件代换查询  
    四. 测试范围
   YBD868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列:
1. TTL54系列
2. TTL55系列
3. TTL74系列
4. TTL75系列
5. CMOS14系列
6. CMOS40系列
7. CMOS45系列
8. 光耦合器系列
9. LED显示器系列
10. 常用RAM系列
11. 常用单片机系列
12. 微机外围电路系列
五. 功能综述
1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号，          
                 并将器件放于对应的工作插座上，仪器即可判别出该
                 器件的好坏。
2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，只需输入该器件的引脚数
                目，并将被测器件放于对应的工作插座上，仪器即可
                立即判别出该器件的型号。
3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询”键就可知道
                是否有逻辑功能与之完全相同的其它器件。
4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的
                型号，并将被测器件放于对应的锁紧插座上，按下 “动
                态老化” 键

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