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JW-STSA1高精度全自动比表面及孔径分析仪技术指标及参数分析方法比表面测定：BET（单点、多点）比表面、Langmuir比表面、外表面测定BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）微孔孔径分布测试：氮分压10-5 - 10-1范围的等温吸附曲线测定，0.35-2nm微孔孔径分布分析（HK或FS法）真密度测试技术参数测试方法：低温氮吸附法，静态容量法测试气体：高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体极限真空：4×10-2 Pa （3×10-4 torr）分压范围：P/P0准确可控范围4×10-5 –0.995控制精度：测试压力点控制最小间隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr），测试点大于1000个点；测量范围：0.01（M2/g）-无规定上限（比表面），2 - 500nm（介孔孔径分析），0.35 - 2nm（微孔常规分析）测试精度：重复性误差±1.5%，压力测量： 采用高精度进口薄膜压力传感器显著提高测试精度样品数量：采用2个样品分析站，可进行2个样品分析，2个样品脱气处理液位控制：多途径液氮面控制与校正技术，确保测试的准确性，连续20h不添加液氮测试效率：多点BET比表面每样平均20-30min预 处 理：两个样品同位处理，温度50-400℃，±1℃；升温速率与时间可单独控制，另可配置独立外置4位预处理机，测试效率更高专用软件：BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等数据采集：高精度双向数字采集模块，最强的灵活性完成最全面的数据采集，误差小，抗干扰能力强数据处理：标准的windows窗口界面，易理解、学习、操作，丰富的比表面和孔分析模型，图像分辨率高，易于维护，兼顾到系统后期扩展质量认证：CE认证、中国计量研究院认证、中国科技部检测报告、国家新产品证书、GB/T 19001-2008质量管理体系认证证书     仪器规格：长605/宽475/高470  (mm)；重量52公斤；电压：交流220  V

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