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静态容量法比表面测试仪
产品规格:JW-BK222价格说明:
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发布时间:2015-09-21
有 效 期:长期有效
信息内容:
JW-BK222型分子筛比表面精微高博是分子筛比表面最具权威的厂商,精微高博分子筛比表面一并荣获中国计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有独家的专利产品是通过国家级高新技术企业精微高博比表面仪具有两个独立分析站,两个样品同时测试,效率提高一倍,控制和测试精度达国际先进水平JW-BK222型分子筛比表面功能比表面测定: BET(单点、多点)比表面,Langmuir比表面,外表面测定;BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布;微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等)真密度测定
JW-BK222型分子筛比表面技术参数分子筛比表面原理方法: 低温氮吸附,静态容量法分子筛比表面吸附气体: 高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体分子筛比表面极限真空: 4 - 6.7×10-2Pa (3- 5×10-4 Torr)分子筛比表面氮气分压: 4×10-5 – 0.995分子筛比表面控制精度: 测试压力点控制最小间隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr)分子筛比表面测试范围: 比表面 ≥ 0.01 M2/g,无规定上限 孔径 0.35 - 400 nm分子筛比表面测试精度: ≤±2%分子筛比表面测试效率: 双工作站,测试效率提高一倍,多点BET比表面测定,每样平均15min 孔径分析两个样品同时测试,效率也提高一倍分子筛比表面预 处 理: 两个样品同位处理,温度50-400℃,±1℃分子筛比表面专用软件: BET(单点、多点)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等
真密度测试:重复性精度0.02%
JW-BK222型分子筛比表面特色 ◎ 比表面仪具有双工作站,测试效率提高一倍,多点BET比表面测定,每样平均15min ◎ 比表面仪具有国内唯一通过国家级技术鉴定的产品,控制和测试精度达到国际先进水平; ◎ 比表面仪具有独有的抽气与充气速度精密控制技术,超微粉样品也不会被抽飞; ◎ 比表面仪具有独特的多途径液氮面控制与校正技术,连续测试10小时也不需添加液氮; ◎ 比表面仪具有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法,微孔常规测试技术国内领先; ◎ 比表面仪具有专用软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程; ◎ 比表面仪具有实验全程自动化、智能化控制,长时间运行完全可以无人职守。
联系方式:
北京精微高博技术有限公司地 址:北京市广安门南滨河路25号A座802
邮 编:100055
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联系人:王芳
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