产品信息
十六串口多用户卡 RUN-C016
产品规格:run价格说明:
产品数量:
包装说明:run
发布时间:2008-08-04
有 效 期:长期有效
信息内容:
RUN-C016 易用经济型8串口卡扩展卡,只要在扩展槽插上PCI总线的RUN 系列多串口卡,所有的设置都能通过软件来完成,无开关无跳线,更无需调整I/O地址和IRQ。需要控制多台RS-232设备时,RUN 系列串口卡提供了经济实惠的多串口扩展方案。产品特点:
◆不会有IRQ和地址的冲突问题产生
◆无开关无跳线,利用软件轻松设置
◆ASIC设计,稳定性高,返修率低
◆支持2000V突波保护
◆传输速率高达115.2Kbps
◆支持ISA和PCI总线
技术参数:
◆ I/O控制器:16C550或16C950每个具有128字节的FIFO,端口数量可调整,FIFO中断触发水平可调整。
◆ 接头形式: DB25或DB9
◆ 串口保护: 每个端口的数据信号都有过压保护装置,可防止浪涌冲击
◆ 总线界面:PCI2.1或ISA
◆ 串口界面:RS-232
◆ 串 口 数:8
◆ 信 号:TXD、RXD、RTS、CTS、DTR、DSR、DCD、RI、GND
◆ 校验 方式: None、even、odd、space、mark
◆ 数据位长度: 5,6,7,8
◆ 停止位长度: 1,1.5,2
◆ IRQ: 由PC BIOS指定
◆ I/O 地址: 由PC BIOS指定
◆ 支持系统: Windows 95/98/2K/NT、SCO UNIX、Linux
◆ 速率:50——115.2kbps
◆ 提供丰富的开发工具包,函数库,编程简便
产品应用:
▲ 工业控制
▲ 自动售票系统
▲ 金融对公储蓄系统
▲ 铁路实时站报系统
▲ 其他串口设备控制系统
联系方式:
北京润光凯勤科技发展有限公司地 址:北京海淀大街育新大厦710
邮 编:100080
电 话:01051668946
联系人:郭华
传 真:
推荐产品
- ·AMI-300 HP 双站化学吸附仪
- ·AMI-300 S 耐腐蚀版
- ·AMI-300IR 红外联用化学吸附仪
- ·精微高博比表面积仪
- ·竞争吸附仪
- ·DX 400比表面积分析仪
- ·TB400比表面积及孔径 同步分析仪
- ·AMI-300系列化学吸附仪
- ·JW-ZQ静态容量法蒸汽吸附仪
- ·JW-DX 比表面积测定仪
- ·JW-P膜孔径分析仪
- ·高性能压汞仪YG-97A
- ·JW-BK400四站比表面及孔径分析仪
- ·JW-BK112基础型比表面及孔径测试仪
- ·炭黑专用外表面测试仪
- ·JW-M100全自动真密度测试仪
- ·橡胶比表面测试物理吸附仪
- ·JW-DX动态氮吸附比表面测定仪
- ·橡胶比表面积快速检测仪
- ·高端分析型橡胶比表面检测仪
- ·负极材料小比表面分析测试仪
- ·石墨烯BET比表面分析仪
- ·陶粒专用全自动三站微孔分析仪
- ·压裂支撑剂比表面测试仪
- ·陶粒密度仪
- ·基础型靶材比表面积测定仪
- ·JW-BK400四站比表面积测定仪
- ·高通量陶粒比表面积测定仪
- ·陶粒专用真实密度仪
- ·炭黑真密度测试仪
- ·磷酸锂真密度测试仪
- ·化工原料真密度测试仪
- ·钴酸锂真实密度测试仪
- ·磷酸锂高性能比表面测试仪
- ·石墨材料真密度测试仪
- ·高通量石墨材料比表面测试仪
- ·Al2O3专用高通量比表面测定仪
- ·四站式催化剂比表面积测试仪
- ·基础型钛白粉比表面积测试仪
- ·基础型矿渣粉比表面测试仪
- ·基础型 化工原料比表面分析仪
- ·基础型 钴酸锂比表面积分析仪
- ·陶瓷材料真密度测试仪
- ·碳纳米管BET比表面积测试仪
- ·高通量 碳化硅比表面积分析仪
- ·1ml 真密度测试仪
- ·3ml 真密度测试仪
- ·碳纳米管 四站式比表面积分析仪
- ·电池材料高性能比表面测试仪
- ·静态四站比表面及孔径分析仪JW-BK400系列