行业痛点：划痕、灰尘、污点等微小缺陷在普通车间顶光下不易与正常反光区分，检验员疲劳后漏检率上升，而缺陷件流到客户端成本远高于产线拦截成本。

解决方案：采用FUNATECH（フナテック）FY-18N表面检查聚光灯，以定向聚光斜射工件表面，利用光线角度把细微划痕、异物和污点从反光中凸显出来，供检验员目视判定。设备可布置在外观检查工位，配合不同工位距离调整光斑照射范围。

方案优势：斜光聚照方式强化了缺陷与正常表面的明暗对比，不依赖高倍率放大即可发现肉眼易漏的表面瑕疵，适合出货前全检工位使用。具体参数以正式规格书为准。