Nicomp纳米粒度仪数据说明

ISO 22412-2008中使用的命名法在技术上是准确的，但在现实中很少使用。例如，用于强度加权平均直径的术语是。在Nicomp软件中，这个值是平均直径。在其他供应商的软件中，这有时被称为Z平均值或Zave。因此，要按照 ISO %22412-2008 中的指导报告 Nicomp 结果，要展示的两个值是平均直径和方差（PI）。

下面描述了图 2 中从左到右、从上到下显示的所有报告值。

平均直径 = 强度分布的平均直径（光强径） , 还有

和 Zave。 Coeff. Of Var’n. = 强度分布的变化系数

Stnd. Dev. = 强度分布的标准偏差, 占总分布的68.2% ± 1以内

Norm. Stnd. Dev. = Stnd. Dev./Mean

方差 (PI) = 多分散系数，定义如下

说明:

Qint,i : 粒径为xi的颗粒的强度加权量。粒径分布可以得到为直径，xi和相应的强度加权量的离散集合 {3Qint, i, xi, i = 1...N}

“Solid Particle” = Nicomp 软件在从强度分布转换为基于体积或数量的分布时，使用两种折射率模型。“Solid Particle”模型假设颗粒的折射率RI与分散液体的RI之间存在很大差异。“Vesicle”模型假设RI颗粒/RI液体的比例更接近，并针对脂质体进行了优化。

注意：这些模型不影响强度结果，只影响体积和数量结果。

Run Time = 测量持续时间的长度

Chi Squared = 拟合优度计算

注：此值还指示应使用高斯还是多模态 Nicomp 结果。如果卡方值低于 2-3，则建议使用高斯结果。对于大于 3 的卡方值，请考虑使用 Nicomp 结果。

AutoB. Adj. = 自动基线调整。当存在一些大颗粒或原始数据嘈杂时，相关函数的基线可能会不稳定。较高的Auto B. Adj 调整值表示数据存在噪声，可能需要更好的样品制备。

Ch 1.Data X1000 = 相关函数中通道 # 1 的内容。值越高，表示函数中的统计准确性越高。

Z-Average Diff Coeff= 斯托克斯-爱因斯坦方程中使用的扩散系数 D，用于将扩散系数转换为粒径。

3. 分布类型

图 2 所示的结果是高斯结果;完全由平均值和标准差（或 PI）定义。高斯分布的特征是，总数的 68% 与平均值相差在 1 个标准差范围内，如图 3 所示。

对于具有多个峰的样品，使用独特的Nicomp计算来解析多峰。较大的卡方值表示简单的高斯结果不能很好地表示原始数据。独特的Nicomp分布分析使用的一般数学过程称为拉普拉斯变换反演（“ILT”）。这种相当复杂的技术也被用于分析其他科学领域的各种问题，与光散射无关。具体的数学过程是高斯（累积量）分析中使用的最小二乘计算的更复杂的版本;它被称为非负最小二乘（“NNLS”）分析。

如图4所示的结果具有较高的Chi平方值，这意味着高斯结果与原始数据的最佳拟合，应考虑Nicomp结果。Nicomp结果如图5所示。

图4.高Chi平方结果，高斯结果

图5.Nicomp 结果

DLS 测量的主要结果是强度加权分布。结果可以转换为数量或体积分布，以便与其他技术进行比较。例如，由于显微镜产生数量加权分布，因此数量分布将显示更接近SEM结果的结果。强度分布将类似于窄对称分布的体积或数量分布。对于更广泛的分布，结果将按照从大到小的一般顺序出现相当大的差异：强度>体积>数量。样品的强度、体积和数量结果的比较如图6-8所示。