行业痛点：导电粉体与涂层的电阻率检测缺乏标准化手段，粉末样品的压制密度差异会导致测量数据可比性差，难以进行批次质量判定。传统两探针法在低电阻区域接触电阻影响较大，测量结果不稳定。半导体薄膜与导电涂层的薄层电阻检测则需要兼顾精度与无损性。

解决方案：利用sigma-5+的粉末测量功能，将样品放入探头单元施加给定压力，同时测量粉末的体积电阻率与压制密度，消除压力差异对数据的影响。对导电薄膜与涂层则采用四探针法直接测量薄层电阻。设备具备电流极性切换测量技术，有效抑制整流效应带来的误差；自动调零与自动量程功能减少人为操作差异。

方案优势：电流极性切换技术抑制整流效应误差；自动调零与自动量程确保操作便捷性；覆盖10⁻⁴至10⁷Ω宽测量范围；兼容数据打印机便于记录归档；可连接Loresta GX扩展测量能力；适配硅晶圆、导电薄膜、粉末等多种样品形态。