基于Phasics四波横向剪切干涉**技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。确保非常精确的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。

SID4-HR 光学器件测量自适应光学

特点：

由于其独特的**技术，Phasics的SID4-NIR波前传感器具备以下特点：

1.高分辨率：160x120测量点

2.高数值孔径测量：无需转镜头

3.消色差：1.5-1.6μm

4.结构紧凑：易于集成于光学系统

应用：

SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学，如用于电信领域或光谱和夜视设备。

镜头表征：实时提供MTF和畸变数据。结构紧凑，易于集成于试验台和生产线。

光学设备校准：它提供了一个非常准确的*小像差测量。

SID4 NIR产品参数：