编号：NMJS07884
篇名：电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定镍基/钴基高温合金中硼磷硅
作者：王丹 王春浩 李辉
关键词： 电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES) 镍基/钴基高温合金 硼 磷 硅
机构： 中国科学院金属研究所
摘要： 采用一定比例的混合酸溶解样品,利用基体匹配配制一系列标准溶液消除基体的影响,以及轴向观测喷嘴吹扫技术来提高待测元素的灵敏度,使用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定镍基/钴基高温合金中硼磷硅。各元素选的分析线依次为B 182.577 nm、P 178.222 nm、Si 185.005 nm。检测范围分别是:B 0.001%~3.0%,P 0.003%~0.20%,Si 0.005%~3.0%,检出限范围为0.00005%~0.0004%,线性相关系数>0.9995。加标回收率为90.0%~105%,精密度RSD<2.0%。方法操作简单快速,结果令人满意。
