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氮化铝基板上厚膜电阻性能分析

编号:CYYJ02348

篇名:氮化铝基板上厚膜电阻性能分析

作者:郝沄 李创 吴鑫 袁海 任英哲 杨春燕

关键词: ALN 厚膜电阻 电阻设计 温度系数 阻值稳定性

机构: 西安微电子技术研究所

摘要: 在AlN基板上,使用IKTS电阻浆料制作了4种方阻的厚膜电阻,确定了AlN基板用电阻的阻值与设计方数的关系,推算出了不同方数下的电阻设计比例。测试了电阻的温度系数,测量结果均小于150×10-6/℃。使用激光调值机对4种方阻的电阻进行调值,经150 ℃、1 000 h高温存储,阻值变化率<1.5%。

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