资料中心

分光光度法测定高纯氧化铝中痕量硅方法改进

编号:NMJS07542

篇名:分光光度法测定高纯氧化铝中痕量硅方法改进

作者:王振越 韩凤兰 康森 常慧 滕斌

关键词: 分光光度法 氧化铝 痕量硅 硅钼蓝法

机构: 北方民族大学材料科学与工程学院 工业废弃物循环利用及先进材料国际科技合作基地 工业副产物高值化利用协同创新中心 天通银厦新材料有限公司

摘要: 采用硅钼蓝法测定氧化铝中硅的含量,用硫酸(1+5.5)作为溶剂溶解氧化铝粉末,显色剂采用钼酸铵与硅络合,再用L-抗坏血酸还原,并加入2.0 ml柠檬酸,在波长815 nm处用3 cm比色皿测定硅的含量。在50 ml体系中,Si含量在低于20μg时与吸光度呈良好的线性关系,r~2=0.99696,用该法成功检测了氧化铝中痕量硅元素的含量,检测范围为0.64~15μg/g,标准偏差小于8%,标准回收率在93%~105%之间。该方法用于检测高纯三氧化二铝粉末,成本低廉,精密度高,其推广使用对蓝宝石生产具有重要意义。

最新资料
下载排行

关于我们 - 服务项目 - 版权声明 - 友情链接 - 会员体系 - 广告服务 - 联系我们 - 加入我们 - 用户反馈