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Si衬底上插入SiO2膜对Ag纳米颗粒陷光性能的影响

编号:NMJS06544

篇名:Si衬底上插入SiO2膜对Ag纳米颗粒陷光性能的影响

作者:白一鸣 ;延玲玲 ;王艳宁 ;苏琳 ;刘海 ;陈诺夫 ;姚建曦

关键词: 二氧化硅膜 银纳米颗粒 形成机理 消光谱 陷光性能

机构: 华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京102206

摘要: 采用磁控溅射法在Si衬底上制备了SiO2介质膜,系统地研究了SiO2膜引入对Ag纳米颗粒的表面覆盖率、形貌、形成机理和光学性质的影响.研究发现引入SiO2介质膜后,Ag纳米颗粒的表面覆盖率显著增加,平均粒径明显降低.基于现有的Ag纳米颗粒形成机理,提出了粗糙表面Ag膜断裂模型以解释其形貌发生变化的原因.紫外一可见光分光光度计测试表明,引入Si02膜并优化其厚度,可使Ag纳米颗粒的偶极消光峰最大红移86nm,但消光峰强度明显下降.数值模拟计算表明,引入SiO2膜的Ag纳米颗粒所能散射的光子数量最小减少2×10^18个.因此,在Si衬底上沉积Si02膜,不利于Ag纳米颗粒陷光性能的提高.

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