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片状导电填料对银碳浆方阻和流变性能的影响

编号:CPJS02812

篇名:片状导电填料对银碳浆方阻和流变性能的影响

作者:肖爽; 堵永国; 刘其城; 王宏; 杨初;

关键词:银碳浆; 片状银粉; 方阻; 流变性能;

机构: 长沙理工大学物电学院; 国防科技大学航天科学与工程学院; 湖南有色中央研究院有限公司;

摘要: 在选定粘结剂体系的基础上,制备了不同片状银粉含量的银碳浆。分别测试了浆料固化膜的导电性能、浆料的黏度曲线、应变扫描曲线和频率扫描曲线,以表征分析片状银粉含量对银碳浆性能的影响。结果表明随片状银粉所占比例的增加膜层方阻呈指数递减;不同片银含量的银碳浆均表现出剪切变稀行为,随片状银粉所占比例的增加浆料在低剪切下的黏度降低;碳浆、银碳浆的线性黏弹区范围基本一致,但银碳浆流动点较碳浆小,流动性较好;银碳浆相对碳浆具有更好的贮存稳定性,印刷适性更佳。

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