11月9日上午，第十二届全国颗粒测试学术会议暨2019 全国粉体测试技术应用研讨会在杭州召开，本次会议的主办单位是中国颗粒学会颗粒测试专业委员会。会议邀请了行业内的专家、学者为大家带来精彩报告，会议旨在召集颗粒测试行业内人士共同探讨颗粒测试的研究进展、技术难点及应用。会议现场如火如荼，与会人员热情高涨。

会上，珠海真理光学仪器有限公司首席科学家张福根博士做了“粉体中（最）大粒的科学表征方法探讨”的主题报告，提出最大粒的表征问题，真实的最大粒本质上是不可测得。能测视场内最大粒（BPVF）的粒度仪包括：电阻法颗粒技术器、颗粒图像处理仪、沉降法粒度仪、其他计数型的粒度仪，并指出激光粒度仪不能测BPVF。

中国计量大学肖刚书记、中国颗粒学会王体壮秘书长、中国颗粒学会颗粒测试专委会主任委员、天津商业大学校长葛宝臻教授为本次大会致辞。

11月10日，大会还颁发了颗粒测试奖和优秀论文奖。其中丹东百特仪器有限公司、中国检验检疫科学研究院、北京市理化分析测试中心获得一等奖，中国科学院过程工程研究所获得颗粒测试奖二等奖；吕且妮、黄鹭、蔡玳菁、张晨雨、王宵宵获得优秀论文奖。

真理光学作为一家专注于颗粒表征分析仪器研发、生产和销售的颗粒表征分析技术企业，为客户提供从纳米到微米，从固体颗粒到乳液、喷雾，全面的颗粒表征仪器和应用解决方案！开发了新一代超高速智能激光粒度分析系统：LT3600系列、LT2200系列、LT2100系列，新一代精度纳米粒度和Zeta电位分析系统Nanolink S900，超高速实时喷雾粒度仪Spraylink系列。